Occasion E+H METROLOGY MX 204-8-37-Q #9234107 à vendre en France

Le E + H METROLOGY E + H METROLOGY MX 204-8-37-Q est un équipement avancé d'essai et de métrologie des plaquettes utilisé pour l'inspection et la caractérisation des plaquettes à grande échelle. Cette plateforme permet aux utilisateurs de détecter et d'analyser rapidement et avec précision les défauts ou les contaminants sur les plaquettes, ainsi que les propriétés des interfaces sous-jacentes. Le système comprend un microscope optique intégré et une technologie de mesure ultra-concise intégrée qui permet des mesures précises dans une variété de tailles de plaquettes. L'unité optique utilise une machine à focaliser automatisée et un étalonnage automatique, permettant des lectures précises et fiables. Il peut également mesurer jusqu'à 100x grossissements, ce qui le rend adapté à tous les types de plaquettes. Les données sont collectées avec un module d'acquisition de données qui peut être interfacé avec un large éventail d'appareils tels que les systèmes de vision automatique, les solutions de métrologie et les systèmes d'imagerie numérique. La technologie de mesure offre des résultats précis, avec une précision de circularité de 0,02 µm et une précision de positionnement de 0,2 µm. En outre, cet outil est conçu pour traiter plusieurs échantillons de toutes tailles, y compris des plaquettes de tailles allant jusqu'à 300mm, permettant de mesurer et d'analyser avec précision même les plus petites plaquettes. MX 204-8-37-Q comprend une interface conviviale et un atout intuitif pour une collecte de données facile. Grâce à l'interface graphique, les utilisateurs peuvent surveiller le processus de collecte de données et ajuster les paramètres. Il est compatible avec presque tous les systèmes informatiques, y compris Windows, Mac OS X et Linux. Le modèle supporte également les connexions USB et Ethernet, permettant aux utilisateurs de communiquer facilement avec l'instrument et d'autres instruments sur le réseau. Les performances puissantes et les capacités d'analyse rapide de l'E + H METROLOGY E + H METROLOGY MX 204-8-37-Q en font un choix idéal pour tout environnement de test et de métrologie de plaquettes. Cet équipement s'intègre facilement dans les réseaux de mesure existants et fournit des données fiables pour une mesure et une caractérisation fiables au niveau des plaquettes.