Occasion E+H METROLOGY MX 204-8-37-Q #9234108 à vendre en France

ID: 9234108
Style Vintage: 2006
Wafer measurement system Square / Pseudo-square: 125-156 mm Gauge type: MX 204-8-25-q Thickness range: 200 - 600 μm Real: 180 - 600 μm CE Marked 2006 vintage.
Le E + H METROLOGY E + H METROLOGY MX 204-8-37-Q est un puissant équipement automatisé de test de plaquettes et de métrologie conçu pour fournir des mesures précises tout en offrant la flexibilité nécessaire pour se conformer aux applications les plus exigeantes. Au cœur du système se trouve une station avancée de test et de métrologie intégrée à 8 canaux et 37 canaux. L'unité offre une grande précision et fiabilité grâce à une machine optique CCD fiable. MX 204-8-37-Q offre une répétabilité exceptionnelle en utilisant des algorithmes de numérisation rapide et de contrôle des processus. La machine peut être utilisée pour caractériser un large éventail de paramètres, tels que la dimension critique, la planéité, et l'uniformité CD, d'une variété de structures d'appareils. L'outil peut également mesurer efficacement la topologie des dispositifs avancés, permettant l'optimisation des processus et l'amélioration du rendement des plaquettes. Son balayage laser 50kHz offre un niveau de poursuite rapide sans précédent, avec une gamme dynamique exceptionnellement large et des niveaux de bruit de tir très bas. Cet atout est idéal pour des applications telles que la microscopie électronique à balayage, l'AFM/SPM et l'imagerie électronique secondaire en cellule (PIC). E + H METROLOGY MX 204-8-37-Q dispose également d'un fonctionnement multimode qui prend en charge plusieurs méthodes d'essai et de mesure de plaquettes (p. ex. détection dynamique sans contact, balayage et imagerie). En outre, le modèle offre une gamme d'options pour simplifier les opérations, fournissant une large gamme de fonctionnalités qui permet aux utilisateurs de configurer l'équipement en fonction de leurs besoins. Le système utilise une technologie de pointe pour fournir la plus grande efficacité, précision, précision et répétabilité. MX 204-8-37-Q est équipé d'une interface utilisateur intuitive, permettant aux utilisateurs de contrôler facilement l'unité sans nécessiter aucune expertise en programmation machine. Il utilise le logiciel LabVIEW pour fournir aux utilisateurs un degré élevé de flexibilité et d'efficacité dans la mise en place de l'outil. En conclusion, le E + H METROLOGY E + H METROLOGY MX 204-8-37-Q est un outil automatisé de test de plaquettes et de métrologie qui offre une excellente précision et précision avec un haut degré de flexibilité, permettant aux utilisateurs de configurer le modèle pour répondre à leurs propres besoins uniques. Sa technologie de balayage laser 50kHz, la détection dynamique sans contact et les modes d'imagerie offrent une solution de mesure efficace et fiable. L'interface conviviale et le logiciel intuitif assurent une configuration et un fonctionnement rapides et faciles.
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