Occasion E+H METROLOGY MX 204-8-37-Q #9234109 à vendre en France

L'E + H METROLOGY E + H METROLOGY MX 204-8-37-Q est un équipement d'essai et de métrologie entièrement automatisé et autonome conçu pour l'analyse rapide des plaquettes et autres substrats. Ce système innovant utilise du matériel et des logiciels spécialisés pour mesurer la topographie, l'épaisseur, la profondeur de gravure, les propriétés électriques et d'autres caractéristiques des substrats de plaquettes avec une précision et une répétabilité inégalées. L'unité est composée d'un portique multi-axes qui supporte une gamme d'outils de mesure adaptés à une grande variété de matériaux et d'applications de plaquettes. Les armoires à gaz à pression et température contrôlée offrent un environnement d'essai stable et thermiquement contrôlé, garantissant que la précision et la répétabilité de mesures multiples ne sont pas compromises par les conditions environnementales. L'outil peut effectuer la reconnaissance automatique des caractéristiques (AFR) et d'autres mesures avancées à l'aide d'un ensemble d'outils tels que des profileurs optiques, des interféromètres et des systèmes d'inspection électrique. AFR détecte automatiquement les modifications des caractéristiques de surface basées sur l'imagerie numérique et les algorithmes et peut mesurer plus de 50 paramètres, dont la rugosité de surface, la profondeur de gravure, l'épaisseur et diverses propriétés électriques. Le progiciel est capable de gérer l'ensemble du processus de mesure depuis l'installation de la pré-mesure jusqu'au post-traitement et au reporting. Il peut automatiquement acquérir, stocker et traiter des données à partir de plusieurs outils et analyser les données pour détecter les tendances. Cela permet d'identifier rapidement les problèmes de production, en éliminant la nécessité d'un examen et d'une analyse manuels fastidieux. La conception ergonomique de l'actif et de son logiciel rend la configuration, le fonctionnement et la maintenance rapides et faciles. Le modèle motorisé de manutention des plaquettes est également capable d'effectuer des mesures rapides sur environ 500 plaquettes par heure. Le MX 204-8-37-Q MÉTROLOGIE E + H est une solution idéale pour les fabricants de dispositifs semi-conducteurs qui exigent des performances de haute précision et répétables pour les essais. Il est également rentable, ce qui en fait un excellent investissement pour n'importe quel environnement de production.