Occasion E+H METROLOGY MX 204-8-37-Q #9234110 à vendre en France

Le E + H METROLOGY E + H METROLOGY MX 204-8-37-Q est un équipement d'essai et de métrologie de plaquettes construit avec une technologie de pointe qui lui permet de mesurer et d'analyser des plaquettes complexes et d'autres composants dans l'industrie des semi-conducteurs. Ce système est conçu pour des mesures cohérentes, de haute précision et précises, comme il est nécessaire pour les mesures de surface à couches minces et complexes. L'unité E + H METROLOGY MX 204-8-37-Q utilise une technique de mesure confocale pour mesurer avec précision les caractéristiques de topographie de surface 3D, telles que les dépassements verticaux et les variations de hauteur avec une excellente précision et résolution. La machine est capable de mesurer des plaquettes jusqu'à 200 mm de diamètre et dispose d'un porte-plaquettes à libération rapide pour des changements de substrat rapides et fiables. De plus, la station de mesure peut accueillir l'utilisation de multiples objectifs et configurations de sondes pour répondre à des exigences d'essai spécifiques. L'outil dispose également d'un étage rotatif spécialement conçu pour la mesure rapide et précise des surfaces planes et des surfaces de pas. Il est équipé d'une grande variété de systèmes optiques, d'étapes sélectionnables de micro-manipulation et d'un outil sophistiqué de reconnaissance de motifs pour automatiser l'identification, la sélection et le dimensionnement de caractéristiques et de mesures spécifiques. Le modèle comprend un module d'acquisition d'images haute vitesse avec une caméra vidéo haut de gamme reliée à un PC puissant permettant aux utilisateurs de capturer et stocker des données haute résolution dans une variété de formats, ce qui facilite le transfert et l'analyse des résultats. Il intègre également une interface de programme de pointe qui simplifie la tâche de créer des interfaces utilisateur dynamiques et interactives pour gérer les mesures de précision. Dans l'ensemble, le E + H METROLOGY E + H METROLOGY MX 204-8-37-Q est un équipement d'essai et de métrologie efficace capable de fournir des mesures répétables de haute précision avec une précision supérieure. Avec son large éventail de caractéristiques et sa technologie de pointe, ce système peut fournir une solution idéale pour toute application de test de plaquettes et de métrologie.