Occasion E+H METROLOGY MX203 #9227878 à vendre en France

ID: 9227878
Wafer thickness measurement system.
E + H METROLOGY E + H METROLOGY MX203 est un équipement d'essai et de métrologie des plaquettes de pointe conçu pour fournir des mesures rapides et précises des plaquettes. Il utilise une combinaison unique de techniques optiques et physiques pour obtenir des mesures précises de l'épaisseur des plaquettes, du rayon de courbure, de l'inclinaison et d'autres caractéristiques dans un processus non destructif. Le système utilise une conception exclusive composée d'un goniomètre motorisé à deux axes, qui sert de moyen de positionnement de la plaquette, et d'un capteur optique qui capte et enregistre les mesures. Le capteur optique comprend une paire de lasers verticaux et horizontaux, qui mesurent le profil en hauteur et la courbure de la plaquette. Cela fournit une façon non destructive, précise et répétable de mesurer la forme et la topographie de la plaquette. Pour assurer la précision des mesures, l'unité est équipée d'une procédure d'étalonnage intégrée qui utilise un échantillon de référence. Cela permet d'obtenir des résultats de mesure précis, quelles que soient les conditions ambiantes. L'E + H METROLOGY E + H METROLOGY MX 203 dispose également d'un puissant logiciel intégré de métrologie, qui traite les données saisies par le capteur optique et fournit une analyse en temps réel et une représentation graphique des résultats. Cela permet à l'utilisateur de surveiller les caractéristiques de la plaquette de manière contrôlée et interactive. De plus, le E + H METROLOGY MX203 est équipé d'un porte-échantillon sous vide motorisé qui aide à sécuriser la plaquette pendant les mesures pour éviter les désalignements, assurant la plus grande précision et fiabilité des résultats. La machine contient également des fonctionnalités intégrées qui aident à réduire le temps nécessaire pour les mesures ainsi que fournir une procédure de configuration rapide. Dans l'ensemble, le E + H METROLOGY MX 203 est un outil avancé d'essai et de métrologie des plaquettes qui fournit des mesures précises, non destructives et répétables des caractéristiques des plaquettes. Son logiciel de métrologie puissant, son porte-échantillon sous vide intégré et sa procédure d'étalonnage permettent aux utilisateurs de mesurer rapidement et avec précision les paramètres d'une plaquette.
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