Occasion EPIPLUS / ETAMAX LIF-100 #9180604 à vendre en France

EPIPLUS/ETAMAX LIF-100 Wafer Testing and Metrology Equipment est une solution de test et de métrologie avancée et entièrement automatisée pour l'industrie des semi-conducteurs. Il est conçu pour fournir une analyse fiable et précise des propriétés physiques, électriques et optiques des plaquettes. Le système dispose des dernières technologies d'imagerie et d'analyse de haute précision, et peut être utilisé pour analyser les modèles de plaquettes jusqu'au niveau sub-micron. ETAMAX LIF-100 est conçu pour une mesure efficace et précise des caractéristiques de surface des plaquettes. Il peut mesurer une variété de paramètres, tels que les longueurs de linéarité, la zone de motif, les dimensions et les bosses de surface. Il est également équipé d'une unité de marquage foncé entièrement intégrée pour la mesure rapide et précise des longueurs de linéarité et d'autres caractéristiques. La machine est capable de mesurer des plaquettes de 1 à 12 pouces de taille, avec une résolution de 1 micron. EPIPLUS LIF-100 est alimenté par un contrôleur puissant qui peut traiter plus de 20 millions de points de données par seconde. Cela permet à l'outil d'analyser rapidement les motifs des plaquettes et de déterminer les propriétés physiques et électriques. De plus, LIF-100 peut mesurer l'épaisseur des couches de couches minces à l'aide de son impédance intégrée. Cela permet une analyse précise et fiable des couches et un contrôle des processus. EPIPLUS/ETAMAX LIF-100 dispose également d'une interface logicielle conviviale, permettant une configuration et un fonctionnement faciles de l'actif. Il est équipé de matériel d'acquisition de données et de logiciels pour l'acquisition et l'analyse automatisées de données. En outre, le logiciel peut fournir une analyse statistique avec des graphiques personnalisables pour fournir aux opérateurs l'information dont ils ont besoin pour prendre des décisions éclairées. ETAMAX LIF-100 est également conçu pour une configuration et un fonctionnement faciles. Il comprend une étape d'échantillonnage intégrée et une interface couleur écran tactile, et peut être intégré avec des systèmes de métrologie automatisés. Il est conçu pour la détection et l'installation rapides et est équipé de robots sous vide automatisés pour la manipulation et le transport précis des échantillons. Cela permet d'accélérer le déroulement du travail et d'améliorer la précision de l'échantillonnage. EPIPLUS LIF-100 Wafer Testing and Metrology Model fournit une analyse de haute précision et fiable des wafers et matériaux de circuits intégrés. L'équipement est conçu pour la précision, la vitesse et la commodité, et aide à améliorer les temps d'essai, réduire les coûts, et améliorer la précision et la fiabilité dans le processus de fabrication.