Occasion FILMETRICS F10-RT-UV #293768760 à vendre en France
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ID: 293768760
Thin film analyzer
Wavelength range: 190-1100 nm
Thickness measurement range: 1 nm-40 µm
Minimum thickness: 50 nm
Probe spot size: 6 mm
Interface: USB 1.0
Light source
Accuracy:
Precision: 0.02 nm
Stability: 0.05 nm
Halogen light
Spectrometer:
Wavelength accuracy: 0.5 nm
Wavelength reproducibility: 0.1 nm
Wavelength resolution: 2.5 nm
Noise: <0.0002 A
Stray light: <0.25% at 500 nm
Amplitude resolution: 14 Bit
Does not include PC
Operating system: Windows XP, 64 Bit
CE Marked
Power supply: 100-240 VAC, 20 W, 50/60 Hz.
FILMETRICS F10-RT-UV est un équipement d'essai et de métrologie de pointe conçu pour fournir des mesures précises et précises pour les procédés de fabrication de semi-conducteurs. Ce système de pointe intègre diverses technologies et fonctionnalités innovantes qui en font un outil essentiel pour assurer la qualité et la cohérence des plaquettes semi-conductrices. Une des caractéristiques clés de F10-RT-UV est sa capacité de mesure ultraviolette (UV). La spectroscopie UV est une technique puissante pour caractériser les films minces sur les plaquettes semi-conductrices, car elle fournit des informations détaillées sur l'épaisseur, la composition et les propriétés optiques des films. FILMETRICS F10-RT-UV est équipé d'un spectromètre UV haute performance capable de mesurer avec précision l'absorption UV et la réflectance des films minces avec une sensibilité et une résolution élevées. En plus de la spectroscopie UV, F10-RT-UV intègre également des capacités de surveillance en temps réel. Cette fonctionnalité permet aux utilisateurs de suivre les processus de dépôt et de gravure sur la plaquette en temps réel, en fournissant une rétroaction immédiate sur les paramètres du procédé et en veillant à ce que les propriétés du film recherché soient atteintes. La capacité de surveillance en temps réel de FILMETRICS F10-RT-UV est essentielle pour optimiser les processus de production et minimiser les défauts dans la fabrication des semi-conducteurs. Un autre aspect important de F10-RT-UV est sa fonctionnalité de cartographie des plaquettes. Cette fonctionnalité permet aux utilisateurs de créer des cartes détaillées de l'épaisseur et de l'uniformité du film sur toute la surface de la plaquette. En analysant ces cartes, les utilisateurs peuvent identifier les variations et les défauts du procédé de dépôt de film, ce qui leur permet d'effectuer les ajustements nécessaires pour améliorer la qualité globale des plaquettes. FILMETRICS F10-RT-UV offre également des capacités automatisées d'analyse et de déclaration des données. L'unité peut traiter de grands volumes de données de mesure rapidement et avec précision, en fournissant aux utilisateurs des rapports détaillés et des aperçus sur la qualité des plaquettes. La fonction d'analyse automatisée des données de F10-RT-UV permet de gagner du temps et de réduire le risque d'erreur humaine, en veillant à ce que les utilisateurs puissent prendre des décisions éclairées sur la base de données fiables. En outre, FILMETRICS F10-RT-UV est conçu avec un logiciel et une interface conviviaux, ce qui permet aux opérateurs de configurer facilement les mesures, d'analyser les données et de générer des rapports. L'interface logicielle intuitive de la machine permet aux utilisateurs de personnaliser les paramètres de mesure, de configurer les séquences de mesure et de visualiser les résultats de mesure de manière organisée et conviviale. Dans l'ensemble, F10-RT-UV est un outil de pointe de test et de métrologie des plaquettes qui offre des capacités avancées de spectroscopie UV, de surveillance en temps réel, de cartographie des plaquettes, d'analyse automatisée des données et d'interface logicielle conviviale. Ce puissant atout est essentiel pour les fabricants de semi-conducteurs qui cherchent à améliorer la qualité et la cohérence de leurs plaquettes et à optimiser leurs processus de production.
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