Occasion FILMETRICS F20-NIR #293737711 à vendre en France

ID: 293737711
Thickness measurement system PC available.
FILMETRICS F20-NIR est un équipement d'essai et de métrologie de wafer de pointe conçu pour soutenir la production, le contrôle des processus et le développement de semi-conducteurs avancés, de dispositifs optoélectroniques et photoniques. Le système offre une combinaison de texturation des plaquettes, de focalisation et de mesure de l'angle de contact, offrant une résolution ultra fine pour une large gamme de matériaux optiques. L'unité dispose d'un large éventail de capacités de métrologie, y compris les calculs 3D, l'analyse d'image, la texture de surface, et les profils de surface optique. Il offre également une large gamme de capacités de test uniques telles que la colorimétrie, la fluorescence, le rayonnement et la détection photo. Grâce à ses capacités optiques avancées, F20-NIR est capable de caractériser des substrats structurés avec une résolution inférieure à quelques nanomètres. La machine offre également une gamme complète de solutions d'imagerie spatiale et temporelle, permettant l'inspection et l'analyse des défauts. Les capacités optiques de FILMETRICS F20-NIR sont complétées par une puissante suite logicielle intégrée, fournissant un large éventail d'outils de traitement et d'analyse. Le logiciel offre une interface conviviale pour capturer des images, manipuler des données et manipuler des composants optiques. Le logiciel propose également des algorithmes avancés pour l'amélioration de l'image, la coloration et l'analyse longitudinale des contraintes. L'outil fournit également des temps de réponse rapides, avec des vitesses d'autofocus et d'autotracking allant jusqu'à 200 Hz. Sa grande vitesse permet une évaluation détaillée de la topologie de surface, de la dérive et des angles de contact sur les images de rétrodiffusion et de surface. F20-NIR actif est idéal pour les applications de caractérisation des dispositifs semi-conducteurs et des plaquettes telles que la métrologie de recouvrement, la mesure de l'épaisseur du film, l'inspection optique, l'analyse des défauts et le profilage de surface. Sa flexibilité et sa vitesse en font un choix idéal pour les essais de plaquettes et d'appareils dans une variété d'industries, y compris l'optoélectronique, la microélectronique, la photonique, le MEMS, l'automobile et l'aérospatiale.
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