Occasion FILMETRICS F20 #293749308 à vendre en France

FILMETRICS F20 est un équipement d'essai et de métrologie de plaquettes de haute performance. Il est spécifiquement conçu pour mesurer des paramètres de couches minces, tels que l'épaisseur, les constantes optiques et les indices de réfraction. Le système se compose d'un amplificateur de longueur focale de 1,200mm, d'un laser HeNe de 633nm et d'une lentille sphérique de 200mm de diamètre. L'unité a une résolution de 0,5 μ m et une précision de 0,01 μ m. La machine peut mesurer les épaisseurs du centre du frottement et de l'axe des films minces jusqu'à 50nm. FILMETRICS F 20 offre de nombreuses fonctionnalités et fonctionnalités. Il dispose d'un outil avancé d'acquisition de données qui acquiert et stocke automatiquement des données de jusqu'à huit wafers simultanément. Il dispose également d'une fonction intégrée de cartographie des plaquettes, qui permet une navigation rapide de la surface des plaquettes. De plus, une fonction de cartographie codée en couleur permet d'identifier rapidement et avec précision les zones de couches minces sur une plaquette. L'actif dispose également d'un logiciel sophistiqué pour l'analyse des données et l'établissement de rapports complets. Son logiciel de pointe permet la collecte, la présentation et l'analyse de données détaillées sur l'épaisseur des couches minces. Les données peuvent être présentées sous forme graphique, ce qui permet une interprétation rapide et facile. Le logiciel permet également de créer des cartes de plaquettes standard personnalisées et des rapports liés aux examens. F20 est convivial et facile à installer et à utiliser. Son interface graphique intuitive permet aux utilisateurs de naviguer et de contrôler rapidement le modèle. De plus, ses capacités de surveillance à distance permettent aux utilisateurs de surveiller leur équipement et de réagir en conséquence à tout changement de performance du système ou à tout problème potentiel. Dans l'ensemble, le F 20 est un outil puissant et fiable pour l'analyse en couches minces. Avec ses caractéristiques avancées, des mesures précises et des capacités d'analyse complètes, il est un choix idéal pour toute recherche ou application commerciale de mesure en couches minces.