Occasion FILMETRICS F20 #9180225 à vendre en France

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ID: 9180225
Thickness measurement system.
FILMETRICS F20 est un équipement d'essai et de métrologie de plaquettes utilisé dans la production de semi-conducteurs. Il est idéal pour effectuer des mesures précises lors de la fabrication de divers produits à base de plaquettes. Le système est conçu pour effectuer des mesures de plaquettes très précises, ainsi que l'évaluation des paramètres de défaut, de discontinuité et d'autres caractéristiques critiques. C'est l'outil ultime pour fournir une métrologie et des tests de plaquettes très précis. L'unité FILMETRICS F 20 dispose d'une caméra haute résolution et d'un éclairage permettant des mesures précises en temps réel. Les optiques très sensibles permettent un alignement et une correction automatique des lentilles, ce qui permet d'obtenir des résultats de mesure plus précis. La machine est compatible avec différents types de plaquettes, dont le silicium, le germanium et l'arséniure de gallium. L'outil offre plusieurs modes de mesure, des mesures topographiques simples aux évaluations très ciblées de paramètres spécifiques. Il offre une large gamme d'options de mesure, y compris bord à bord, radial, ligne, point et cercle. Les données obtenues de l'actif peuvent être utilisées pour identifier des anomalies dans la surface, telles que des défauts et des discontinuités. En plus de fournir des mesures précises, F20 wafer test et modèle de métrologie fournit également une variété d'options de traces et de superposition. Cela peut être utile pour mesurer avec précision les dimensions et autres dimensions critiques. Le mode tracé et superposé permet également une analyse visuelle et statistique précise de la plaquette. La machine est également compatible avec divers autres outils logiciels, tels que les logiciels qui peuvent générer une carte de surface précise. La machine est équipée d'un équipement de navigation inertielle qui lui permet de se positionner avec précision, sans avoir besoin d'étalonnage. Il dispose également de divers dispositifs de sécurité et capteurs pour détecter le mouvement et les vibrations, ce qui le rend sûr à utiliser dans une installation de production. Le système est également équipé d'une gamme de modes d'inspection et d'imagerie, permettant une gamme d'analyses spécialisées. F 20 unité d'essai et de métrologie de wafer est un choix idéal pour la mesure et l'évaluation précises des produits à base de wafer. Sa combinaison de mesures de précision, d'options de traces et de superposition, de caractéristiques de sécurité fiables et de support d'outils logiciels en font un choix parfait pour tout environnement de production.
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