Occasion FILMETRICS F20 #9316076 à vendre en France

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ID: 9316076
Thin film analyzer Regulated tungsten-halogen lamp Wavelength range: 400 nm to 1,000 nm 15nm - 70µm 380 - 1050nm Light spot size: ~1.5 mm Film thickness range: 150 A to 50 µm Film thickness range for measuring N and K: 1000 A to 5 µm Accuracy: >0.4% / 10 A Precision: 1 A Stability: 0.7 A.
Le système FILMETRICS F20 d'essai et de métrologie des plaquettes haute vitesse et haute précision fournit une suite complète de tests qui permet une mesure précise dans un large éventail d'applications. FILMETRICS F 20 utilise l'imagerie confocale haute fréquence pour mesurer avec précision les propriétés physiques tridimensionnelles des matériaux, permettant une analyse précise pour des applications telles que l'épaisseur des couches minces, la composition et d'autres paramètres optiques. La combinaison logicielle et matérielle avancée permet de mesurer rapidement de multiples zones sur n'importe quelle surface d'échantillon, des plaquettes semi-conductrices à l'optique de la salle blanche, qui peut être analysée rapidement et avec précision. F20 fonctionne avec un puissant module Scanner d'imagerie haute vitesse qui est optimisé pour la vitesse, la précision et la précision. Sa capacité 3D fournit une précision quantitative au niveau de la cartographie pour la mesure des hauteurs de pas et des angles d'inclinaison. La haute précision du F 20, associée à sa vitesse de balayage leader dans l'industrie, le rend idéal pour le contrôle des processus en temps réel, permettant une analyse extrêmement précise de n'importe quelle étape du processus. Les cartes de topographie haute résolution et tridimensionnelle de FILMETRICS F20 sont créées en combinant des images verticales haute résolution et des images latérales basse résolution de chaque zone d'échantillonnage. Le logiciel compare constamment les points de données recueillis tout au long de l'analyse et fournit une rétroaction qui est utilisée pour ajuster les paramètres en conséquence afin de maintenir des paramètres optimaux par rapport aux valeurs standard. En même temps, les caractéristiques linéaires telles que les marches et les profils de bord sont automatiquement extraites et mises en évidence, fournissant une représentation intuitive et rapidement vue de la surface à un niveau de pixel. En plus du module Imaging Scanner, FILMETRICS F 20 est équipé d'une puissante plate-forme de mesure intégrée qui comprend plusieurs autres modules tels que l'optique et l'analyseur de fluorescence, le spectrophotomètre avancé et les modules d'analyse et d'étalonnage d'images. En plus de fournir des capacités étendues de test d'échantillons, le spectrophotomètre avancé fournit une analyse de données puissante pour des applications telles que l'électroluminescence, la caractérisation OLED et les mesures de couches minces CdSe/ZnO. Le système est également équipé de mécanismes d'étalonnage très précis qui lui permettent de fonctionner dans n'importe quel environnement, de la salle blanche au laboratoire. F20 est un outil d'essai de plaquettes et de technologie de métrologie qui a révolutionné l'industrie. Avec son matériel puissant et son logiciel intuitif, le système offre un niveau de performance et de précision sans précédent.
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