Occasion FILMETRICS F50 #9396057 à vendre en France

ID: 9396057
Thin film mapper.
FILMETRICS F50 est un équipement d'essai de plaquettes et de métrologie pour une variété d'applications de couches minces. Il offre une grande vitesse et précision pour le test d'une large gamme de propriétés de couches minces. Ce système utilise plusieurs technologies de pointe, telles que la spectrophotométrie de réflectance à couches minces et l'ellipsométrie. La spectrophotométrie de réflectance des couches minces (TFRS) de FILMETRICS F 50 offre la meilleure précision en classe jusqu'à moins de 1 micromètre dans la mesure de l'épaisseur des couches minces. Il offre une analyse rapide et sans contact sur une large gamme de longueurs d'onde, et il peut mesurer l'épaisseur des couches minces avec une précision supérieure à 0,1 %. Ce niveau de précision est plusieurs fois meilleur que d'autres technologies, telles que la diffusion et la transmission sur plaquette. De plus, F50 utilise l'ellipsométrie pour mesurer les paramètres des couches minces, tels que l'indice de réfraction et l'épaisseur des couches minces. Il est adapté à une large gamme d'applications de couches minces, y compris le verre, les polymères et les métaux. L'unité peut mesurer les propriétés des couches minces qui sont non transparentes et partiellement transparentes, ce qui fournit une utilité étendue à différents matériaux. F 50 offre un rapport signal/bruit élevé, des vitesses de balayage rapides et une résolution améliorée pour l'analyse de petites fonctionnalités. Il intègre également un environnement de pression positive pour un rapport signal/bruit optimisé et des performances de balayage sans défaut pendant les perturbations environnementales. Avec sa vitesse d'acquisition des données, la machine peut acquérir jusqu'à 500 spectres par seconde, ce qui permet une analyse des données en temps réel. L'outil peut scanner la zone de 0.2mm2 à 840mm2 et fonctionne selon les normes de calibration les plus élevées. FILMETRICS F50 est un actif polyvalent et peut être utilisé pour de nombreuses tâches différentes, telles que l'évaluation de l'uniformité et de la stabilité des procédés de dépôt de couches minces et la mesure de la résistance des tôles, des propriétés optiques et des constantes diélectriques. Il offre une précision, une vitesse et une fiabilité optimales avec une entrée minimale de l'opérateur.
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