Occasion FOGALE NANOTECH Deeprobe 300-M #293644160 à vendre en France

ID: 293644160
Taille de la plaquette: 8"
Style Vintage: 2014
System, 8" CCD Camera Adjustable metrology spot size TSV Diameter: >2 µm A:R Up to 30 2014 vintage.
FOGALE NANOTECH Deeprobe 300-M est un équipement automatisé d'essai de plaquettes et de métrologie conçu pour la métrologie des semi-conducteurs de pointe. C'est un système multidimensionnel de métrologie des semi-conducteurs qui est capable d'effectuer la cartographie des wafer pour les propriétés électriques et physiques. Deeprobe 300-M a été conçu avec les technologies de plaquettes de silicium les plus avancées à l'esprit. Il est équipé d'un prober automatisé et d'une unité d'imagerie de haute précision pour une métrologie précise. FOGALE NANOTECH Deeprobe 300-M utilise une technique innovante de « détection empilée » pour mesurer le diamètre, la largeur de ligne et d'autres paramètres sur une large gamme d'échantillons à l'échelle du micromètre. Le prober est configurable pour accueillir différentes tailles de pointe de sonde, qui peut mesurer avec une précision et une répétabilité exceptionnelles sur toute la gamme d'échantillons. Cette machine est également l'un des rares systèmes de métrologie qui peut automatiquement calibrer les erreurs de profil pour assurer des résultats précis. Deeprobe 300-M dispose d'un outil d'imagerie puissant qui lui permet de détecter avec précision les défauts de la plaquette de silicium. Cela comprend les limites du grain, les particules et les vides, la taille latérale du grain, et plus encore. L'actif d'imagerie permet également au modèle de produire une carte de profondeur du profil de l'échantillon, ce qui aide à identifier les variations de profil ou d'autres défauts. L'interface logicielle conviviale est conçue pour rendre le fonctionnement de FOGALE NANOTECH Deeprobe 300-M simple et intuitif. L'équipement peut être facilement intégré à d'autres outils ou techniques utilisés pour l'analyse des plaquettes grâce à des protocoles industriels standard. Cela permet une configuration et une utilisation simplifiées, ce qui contribue à améliorer l'efficacité des procédés de fabrication des plaquettes. Pour garantir l'exactitude et la répétabilité des résultats, Deeprobe 300-M dispose également d'un système complet d'analyse et de rapports. Ces informations peuvent être utilisées pour affiner les contrôles de processus et améliorer le rendement des plaquettes. L'unité peut produire des rapports dynamiques qui fournissent des données sur les métriques telles que la forme du profil de défaut, l'angle des bords, la distribution de la taille des grains et plus encore. En résumé, FOGALE NANOTECH Deeprobe 300-M est une machine automatisée d'essai et de métrologie des plaquettes qui fournit une précision et une répétabilité exceptionnelles dans la cartographie des plaquettes pour les propriétés électriques et physiques. Il dispose de puissantes capacités d'imagerie et d'analyse pour garantir des résultats précis, et son interface logicielle conviviale le rend facile à utiliser. L'outil a été conçu pour les applications avancées de métrologie des semi-conducteurs et est idéal pour l'inspection des plaquettes, la surveillance des défauts et l'amélioration des processus.
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