Occasion FORMULA TT #9101880 à vendre en France

FORMULA TT
ID: 9101880
Metrology testing system.
FORMULA TT est un équipement d'essai et de métrologie de plaquettes développé par ROCK Semiconductor Technologies. Il est conçu pour fournir des tests et métrologie précis, répétables et à grande vitesse pour une large gamme de substrats de plaquettes semi-conductrices, y compris SOI, ICs 3D, HBLED, plusieurs plaquettes collées, et plus encore. Le système se compose de deux composantes principales : le module Sonde et Image et le module de mesure. Le module EXP assure un positionnement précis et répétable de l'embout de la sonde lors des tests. Il dispose d'une unité de positionnement de haute précision pour s'assurer que les sondes entrent en contact avec le substrat de test avec précision sans distorsion ni désalignement. Le module de mesure est l'endroit où se déroulent l'essai réel et la métrologie. Il mesure la tension, le courant, la température et d'autres signaux électriques sur le substrat de la plaquette. Ce module dispose également d'algorithmes sophistiqués pour analyser ces signaux, permettant d'effectuer des tests paramétriques avancés et des mesures. La machine fournit également des diagnostics et des fonctions de contrôle au niveau de l'outil pour améliorer la précision et les performances. Il offre des tests en ligne et hors ligne, permettant un retournement rapide pour maximiser les rendements. Il est possible de tester plusieurs substrats rapidement et avec précision avec un seul actif, ce qui en fait une solution idéale pour la fabrication de semi-conducteurs à haut volume. Le modèle est également équipé d'une interface utilisateur graphique (interface graphique) pour une navigation facile. L'interface graphique permet aux utilisateurs d'accéder facilement aux fonctionnalités et aux réglages de l'équipement dans les plus brefs délais. Il dispose également d'un visualiseur de données qui permet aux utilisateurs de revoir les données mesurées des plaquettes à tout moment. Dans l'ensemble, TT est un excellent système de test et de métrologie des plaquettes à haut volume. Sa grande précision et ses performances, ainsi que sa facilité d'utilisation en font une solution idéale pour la fabrication de semi-conducteurs et la recherche.
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