Occasion FOUR DIMENSIONS 280 #293639176 à vendre en France
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ID: 293639176
Taille de la plaquette: 6"
Four point probe resistivity measurement system, 6"
1995-1996 vintage.
FOUR DIMENSIONS 280 est une plaquette d'essai et un type d'équipement de métrologie qui est utilisé pour mesurer et tester l'intégrité des circuits intégrés à semi-conducteurs. Ce système est capable de construire des formulations et des offres uniques pour répondre aux besoins de divers clients. Il comporte un certain nombre de technologies avancées et sophistiquées qui permettent d'identifier et de tester les performances des IC. 280 est équipé d'un étage optique mobile à grande vitesse qui permet des mesures précises et dispose d'une interface de programmation robuste et de capacités d'automatisation. Cette machine dispose également d'un microscope à pleine vision avancé qui comprend des scanners de faisceau, la reconnaissance optique automatisée programmable et la reconnaissance de motifs pour des mesures précises. Cette technologie minimise la possibilité de performances électriques défectueuses et fournit des mesures précises dans une fraction de micron. L'outil est également livré avec un actif d'enregistrement de wafer-to-wafer précis qui fournit une haute précision avec une résolution précise et la mesure de la précision. FOUR DIMENSIONS 280 offre également un outil de mesure intégré qui permet à l'utilisateur de configurer ses propres mesures d'axe et de surface. Ses résultats de mesure peuvent être affichés sur une interface graphique en temps réel avec un haut niveau de précision, de résolution et de précision. Le modèle est également livré avec un logiciel de métrologie de pointe qui est conçu pour aider les utilisateurs à développer des algorithmes d'analyse de défauts spécifiques à l'application. Cela permet une métrique d'ouverture automatique, l'évaluation des défauts et une variété d'autres opérations automatisées. Il comprend également un ensemble intégré de mesure de fichiers vectoriels et d'édition de vecteurs pour le découpage des vecteurs, la comparaison des vecteurs et le repérage des défauts. 280 est un outil complet pour l'industrie des semi-conducteurs. Il offre des mesures précises, une analyse automatisée des défauts et des capacités de traitement des vecteurs qui minimisent les possibilités de défauts et permettent une production efficace de produits semi-conducteurs fiables. Ses performances, sa précision et sa précision sont inégalées, offrant aux utilisateurs un système inégalé pour répondre aux besoins de leurs clients.
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