Occasion FRT MicroProf #293636596 à vendre en France

ID: 293636596
Style Vintage: 2010
Flatness measuring system 2010 vintage.
FRT MicroProf est un équipement d'essai et de métrologie utilisé pour un large éventail d'applications de semi-conducteurs. Il permet l'analyse et l'inspection automatisées de dispositifs microélectroniques utilisant des technologies d'imagerie et de métrologie à haute performance. Les capacités avancées d'imagerie et de métrologie du système permettent aux chercheurs et aux ingénieurs d'échantillonner et d'analyser rapidement et avec précision les plaquettes. L'unité est alimentée par un microscope optique avancé et une suite d'outils d'analyse automatisés. Il intègre la technologie de pointe des caméras et des logiciels d'imagerie pour capturer des images à haute résolution. La machine peut détecter et mesurer des structures physiques jusqu'à 5nm de taille avec une précision de 0,01 microns. Cela permet des mesures très précises et une analyse détaillée des matériaux et dispositifs semi-conducteurs. L'outil intègre également de puissants algorithmes de traitement d'image et des modules logiciels pour faciliter l'analyse et la mesure automatisées de petites et de grandes fonctionnalités sur des plaquettes entières. De plus, l'interface conviviale offre aux utilisateurs un moyen intuitif d'interagir et de contrôler l'actif, d'activer les algorithmes et d'obtenir des résultats. Le modèle MicroProf offre de nombreux avantages, notamment un débit et une précision élevés, des mesures reproductibles et des fonctionnalités automatisées. Les fonctionnalités avancées de l'équipement permettent aux utilisateurs de générer des rapports complets et fiables, y compris des vidéos et des images complètes de test de compétence 3D. Le système est également évolutif et peut être adapté aux différents besoins de production et de recherche. Dans l'ensemble, FRT MicroProf est une unité polyvalente d'essais de plaquettes et de métrologie conçue pour fournir aux chercheurs et aux ingénieurs des résultats très précis et fiables pour leurs applications semi-conductrices. Les puissantes capacités d'imagerie et l'interface utilisateur intuitive de la machine facilitent l'acquisition de données fiables pour l'analyse et le test. L'outil permet aux ingénieurs et aux chercheurs d'inspecter et de tester rapidement et avec précision leurs matériaux et leurs dispositifs.
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