Occasion FRT MicroProf #9394687 à vendre en France

FRT MicroProf est un équipement de métrologie et d'essai de wafer de haute précision conçu pour mesurer et évaluer un large éventail de paramètres de wafer et de paramètres liés aux matériaux avancés. Il dispose d'une gamme complète de systèmes d'analyse offrant des mesures de plaquettes avec une précision de sous-microns pour répondre aux besoins des opérations complexes d'essai et de vérification. Le système MicroProf est basé sur la technologie d'imagerie avancée FRT, permettant la précision submicronique dans la mesure des paramètres de la plaquette tels que l'épaisseur, la rugosité et les défauts existants. Il est capable d'imager des paramètres sur une gamme de matériaux de substrat différents, y compris des plaquettes semi-conductrices, des écrans plats, des photomasques et des substrats de dispositifs médicaux. Il fonctionne également comme une plate-forme avancée pour tester et développer de nouveaux matériaux, fournissant un environnement de test pour apprendre sur la microstructure du matériau et ses propriétés physiques. L'unité MicroProf de FRT peut détecter, caractériser et mesurer une variété de paramètres de métrologie et de défauts, y compris la largeur de la ligne, la hauteur du pas, la figure de mérite, la taille des particules, la taille et la densité des défauts, la dimension critique, la profondeur et l'uniformité des gravures, et la mesure du recouvrement. Il est très intégré à la machine de traitement des plaquettes semi-conductrices existante de l'utilisateur, fournissant le transfert et la cartographie de données en temps réel ainsi que le logiciel de recherche de données qui simplifie l'analyse des données de plusieurs plaquettes. MicroProf utilise un outil optique automatisé par ordinateur et comprend des composants d'acquisition, de traitement et d'analyse d'images. Ses capacités de balayage rapide et ses fonctions auto-focus et autoshuttle fournissent des mesures précises rapidement. Il présente également les dernières avancées en matière d'imagerie, d'éclairage et de technologie logicielle, permettant à l'actif de détecter de petites fonctionnalités ou d'analyser des données complexes à partir de plusieurs plaquettes. Le logiciel avancé du modèle FRT MicroProf permet aux utilisateurs d'effectuer la cartographie des plaquettes sur toute la surface des plaquettes. Sa capacité à mesurer plusieurs plaquettes dans un processus synchronisé minimise les désalignements de référence entre les plaquettes, ce qui le rend très efficace. L'équipement MicroProf supporte également la télémanipulation et offre une excellente flexibilité pour la manutention et le débit des plaquettes. Enfin, le système profite des propriétés optiques uniques des échantillons pour augmenter encore la précision et la fiabilité des mesures. Les mesures de haute précision et l'imagerie optimisée permettent une interprétation précise des paramètres mesurés. En outre, la conception rentable fait de FRT MicroProf l'un des leaders de la métrologie des plaquettes et des solutions d'essai sur le marché.