Occasion FRT MPR 200 #293607164 à vendre en France

FRT MPR 200 est un système de test et de métrologie de plaquettes très avancé et efficace. Il peut fournir des mesures complètes de surface et de défauts avec une précision et une fiabilité supérieures. Ce système est équipé d'un détecteur à double émission unique qui augmente la sensibilité et maximise la vitesse d'essai et les performances de mesure. MPR 200 est équipé d'une série de processus logiciels puissants qui sont utilisés pour analyser, inspecter et tester des structures et des fonctionnalités en couches minces sur des plaquettes semi-conductrices. Ses algorithmes d'inspection automatisés permettent d'identifier les défauts limitant le rendement et d'obtenir une sensibilité maximale pour la mesure des données de profil dopant et des films épais. Ses processus d'auto-étalonnage et d'auto-correction réduisent encore le temps de traitement des données. FRT MPR 200 utilise une méthode de détection sans contact utilisant un chariot de sonde automatisé et un étage de mouvement de l'échantillon qui positionne et balaye l'échantillon au besoin. MPR 200 peut trouver des défauts aléatoires, récurrents et de ligne à ligne. Il a un faible bruit et une grande précision dans la détection des défauts de sous-microns et même les plus petits écarts de largeur de ligne. FRT MPR 200 offre également une précision précise et répétable dans la mesure des épaisseurs de films métalliques, de poly-silicium et d'oxyde, des concentrations de dopants et des dimensions critiques. Grâce à ses mesures précises et à ses capacités d'inspection à plusieurs défauts, MPR 200 facilite l'amélioration du contrôle des procédés et de la qualité des produits. Il fournit également des données corollaires exceptionnelles pour faciliter les processus d'analyse, de dépannage et de débogage. Dans l'ensemble, le FRT MPR 200 est un système d'essai et de métrologie fiable et puissant qui offre une précision et une vitesse inégalées. Ses caractéristiques avancées et ses puissantes capacités de détection permettent la détection et la caractérisation de plusieurs défauts et matériaux, ainsi que des mesures précises de l'épaisseur du film, des concentrations de dopants, des dimensions critiques et d'autres caractéristiques. Son intégration des processus d'auto-étalonnage et d'auto-correction permet de réduire au minimum les temps de traitement des données et sa méthode de détection sans contact assure une précision et une fiabilité supérieures.