Occasion FSM / FRONTIER SEMICONDUCTOR 128 #293595237 à vendre en France

ID: 293595237
Taille de la plaquette: 8"
Film stress measurement system, 8" Desktop computer Interface board Connection cable.
FSM/FRONTIER SEMICONDUCTOR 128 est un équipement d'essai et de métrologie de plaquettes qui est utilisé pour évaluer et caractériser la filière sur de petites plaquettes de semi-conducteurs. Il a été développé par FSM Inc. comme outil pour tester et mesurer les caractéristiques électriques, optiques et physiques des matrices montées sur des plaquettes semi-conductrices. Le système FSM 128 utilise un capteur de type cantilever pour placer avec précision des matrices sur le substrat d'une plaquette. Il peut détecter, identifier et mesurer des décès individuels provenant de divers matériaux et tailles de substrat. Il lit également les codes-barres et fournit des informations détaillées sur la caractérisation de la die. L'unité est capable d'effectuer toute une gamme de tests au niveau des plaquettes, tels que la mobilité des porteurs, la résistance de contact et la mesure des fuites en courant continu. Il contient également un microscope électronique à balayage qui fournit une vue à l'échelle atomique de la surface de la plaquette, permettant de mesurer en profondeur la taille et la distance de la surface de la plaquette. La machine FRONTIER SEMICONDUCTOR 128 est dotée d'une imagerie optique de haute précision, ce qui lui permet de localiser, d'inspecter, de mesurer et d'identifier avec précision les défauts dans les matrices individuelles. Il fournit des analyses complètes des caractéristiques électriques, mécaniques et optiques de la plaquette, offrant une solution complète de test et de métrologie de la plaquette. En plus de ses capacités de test, l'outil permet également le stockage de données et l'analyse des résultats. Il fournit une interface utilisateur simple, permettant un fonctionnement facilement accessible et intuitif. 128 est un actif de test et de métrologie de plaquettes très avancé disponible pour une variété d'applications. Il s'agit d'un outil précieux pour l'évaluation et la caractérisation de la filière sur les plaquettes semi-conductrices à petite échelle, permettant un contrôle et une caractérisation complets des plaquettes.
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