Occasion FSM / FRONTIER SEMICONDUCTOR 128 #9188871 à vendre en France

L'équipement FSM/FRONTIER SEMICONDUCTOR 128 est un système d'essai et de métrologie des plaquettes utilisé pour mesurer et valider une variété de dispositifs sur les plaquettes semi-conductrices. Il offre une solution haute résolution, automatisée et robuste pour la cartographie des plaquettes, le contrôle des processus et la gestion des rendements pour les circuits intégrés et les composants optoélectroniques. L'unité comprend un ensemble de bras de balayage avec isolation intégrée des vibrations ainsi qu'un moteur intégré et un capteur de position, un étage de plaquettes, plusieurs supports de plaquettes, un microscope optique, une source lumineuse d'inspection LED et un logiciel de capture et d'analyse d'images. Son bras de balayage à grande vitesse et ses multiples configurations de porte-plaquettes peuvent accueillir jusqu'à douze plaquettes simples ou 4x2 plaquettes doubles simultanément. Le microscope intégré contient une optique haute résolution de profondeur de champ avec éclairage LED pour la détection d'alignement et la capture d'image. La taille de l'échantillon peut varier de 4mm à 200mm avec une précision allant jusqu'à 1 micron dans les deux axes. Les images peuvent être affichées en couleur RVB 8 bits ou 24 bits pour la visualisation. Pour l'analyse d'images, la machine utilise une variété de mesures et d'algorithmes pour mesurer et analyser avec précision des structures complexes. Des algorithmes avancés de détection de défauts ou de visibilité accrue peuvent être appliqués aux zones sélectionnées pour une analyse plus approfondie. Une variété de techniques de filtrage d'image telles que l'ajustement de contraste, la réduction de couleur, la détection des bords, et le masquage sont également pris en charge. L'outil offre des capacités complètes de rapport pour fournir une image détaillée de l'état de la plaquette, y compris des informations statistiques et diagnostiques. Il comprend également un large éventail de fonctions de post-traitement et d'analyse des données, y compris le tri des défauts sur la base de critères multiples et des cartes des défauts repérables. Dans l'ensemble, l'actif FSM 128 est un outil polyvalent et hautement capable de tester et de métrologie des plaquettes qui est conçu pour être utilisé dans les processus de production automatisés et le développement des puces, et est capable de produire une analyse détaillée et de rapporter l'état de la plaquette. Sa combinaison de microscope optique haute résolution et de source lumineuse LED avec des capacités d'imagerie et d'analyse avancées en fait un composant essentiel pour la technologie moderne des semi-conducteurs.