Occasion FSM / FRONTIER SEMICONDUCTOR 128 #9396059 à vendre en France

FSM/FRONTIER SEMICONDUCTOR 128 est un équipement d'essai et de métrologie automatisé de pointe pour les essais au niveau des plaquettes des dispositifs optoélectroniques et semi-conducteurs. Le système est conçu pour fournir une gamme complète de solutions de mesure qui sont adaptées aux exigences spécifiques de l'application de l'appareil. Les composants de l'unité comprennent à la fois un test intégré et autonome et des modules de métrologie qui peuvent être configurés pour répondre à diverses exigences. La suite de modules la plus élémentaire comprend une station de test et de mesure multi-canaux, un module de micro-lithographie, une plate-forme de dépôt de pulvérisateurs, un module de diffraction, un appareil d'imagerie et une station d'acquisition de données. En outre, la machine comprend également un outil automatisé multidimensionnel de test et de métrologie conçu spécifiquement pour tester et caractériser les dispositifs optoélectroniques et semi-conducteurs. L'actif FSM 128 offre également une grande flexibilité dans les tests des appareils. Le modèle prend en charge un large éventail de conditions d'essai, y compris des mesures de réseau, des essais haute vitesse de haute précision, des essais haute fréquence et des essais de grande puissance. L'équipement supporte également des capacités complètes de caractérisation des défauts et des performances, ainsi que des fonctions d'analyse automatisées. Le système utilise une unité de contrôle optique innovante basée sur la caméra pour permettre la mesure la plus précise des appareils au niveau de la plaquette, fournissant une précision plus élevée et des résultats plus rapides. La machine supporte également des mesures ultra-sensibles, telles que celles nécessaires pour caractériser des dispositifs de faible puissance. De plus, l'outil est capable de mesurer des signaux en courant continu et en courant alternatif avec des lignes de courant et de tension extrêmement précises. De plus, FRONTIER SEMICONDUCTOR 128 dispose d'un atout de productivité à haut débit qui permet non seulement d'optimiser la mesure des appareils mais aussi de réutiliser les données de test des appareils. Le modèle prend également en charge un large éventail d'options de saisie et d'analyse de données, y compris la fusion de données, l'analyse spectrale du domaine temporel, les méthodes de mesure paramétrique et la caractérisation des appareils. Dans l'ensemble, 128 wafer testing and metrology equipment sont un système très sophistiqué, perfectionné et complet capable de répondre à diverses exigences en matière d'essais et de métrologie. Avec sa gamme complète de capacités de mesure, l'unité offre une solution flexible et puissante pour caractériser et optimiser les dispositifs optoélectroniques et semi-conducteurs.