Occasion FSM / FRONTIER SEMICONDUCTOR 128L C2C #293750761 à vendre en France

FSM/FRONTIER SEMICONDUCTOR 128L C2C est un équipement avancé d'essai de plaquettes et de métrologie avec un logiciel de bibliothèque intégré. Il est conçu pour le test dynamique et l'analyse de plaquettes pour l'électronique des semi-conducteurs. Le système FSM 128L C2C utilise le réseau efficace de systèmes informatiques de production (PCS) pour tester chaque plaquette dans le processus de production. L'unité FRONTIER SEMICONDUCTOR 128LC2C est une solution de test de plaquettes qui dispose d'ensembles d'outils avancés pour permettre la métrologie de plaquettes pour dispositifs semi-conducteurs. Il utilise une technique de balayage hybride pour obtenir des mesures rapides, fiables et précises sur différentes géométries de plaquettes et tailles de structure. La technique de balayage hybride comprend une combinaison d'imagerie électrique, optique, radiographique et scientifique pour mesurer et analyser avec précision les caractéristiques du dispositif et de la puce d'une plaquette. Il fournit également un logiciel de bibliothèque intégré, permettant l'analyse des propriétés semi-conductrices des plaquettes avec la même vitesse, la même précision et la même fiabilité. 128L Machine C2C est très facile à entretenir. Sa conception modulaire permet de remplacer facilement les composants alors que l'outil est toujours en production. 128LC2C asset est livré avec une bibliothèque intégrée de logiciels qui peuvent être facilement mis à jour avec de nouvelles classes d'appareils et fonctionnalités. Le modèle est également conçu pour le passage rapide, permettant un fonctionnement commuté. L'équipement est également livré avec un ensemble d'outils d'analyse de données complet pour évaluer les caractéristiques des plaquettes. Cet ensemble d'outils comprend des outils pour mesurer et analyser une variété de paramètres de plaquettes, y compris des paramètres électriques, des paramètres optiques, des paramètres de rayons X et, surtout, des caractéristiques physiques. Cette gamme d'outils d'analyse permet aux ingénieurs, techniciens et chercheurs de diagnostiquer correctement les problèmes qui peuvent surgir dans la fabrication des plaquettes. Les FSM 128LC2C peuvent également être utilisés pour le contrôle de la qualité des plaquettes au fur et à mesure qu'elles passent par le processus de production. Cela comprend le diagnostic automatisé des défauts des plaquettes, le comptage des bords des plaquettes, le taux de rendement et les indicateurs de performance des lignes. Grâce au puissant ensemble d'outils d'analyse de données et à la bibliothèque de données de référence du système, les ingénieurs et les chercheurs peuvent rapidement identifier tout problème dans le processus de fabrication qui pourrait mener à des problèmes de wafer. Dans l'ensemble, l'unité d'essai et de métrologie FSM/FRONTIER SEMICONDUCTOR 128LC2C est une machine puissante et efficace qui fournit une analyse fiable et précise des caractéristiques des plaquettes. Avec sa bibliothèque complète de logiciels, son passage rapide et ses diagnostics automatisés, il peut être utilisé pour tester et entretenir efficacement les composants semi-conducteurs, ce qui facilite la conception et la production de produits.