Occasion FSM / FRONTIER SEMICONDUCTOR 128L C2C #293760135 à vendre en France
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FSM/FRONTIER SEMICONDUCTOR 128L C2C est un équipement d'essai et de métrologie de plaquettes conçu pour l'industrie des semi-conducteurs. Il est capable de caractériser optiquement des dispositifs sur une plaquette dans les domaines des longueurs d'onde courte (visible) et longue (infrarouge). Le système comprend un microscope optique haute résolution, une électronique à balayage, un traitement et un stockage des données et des étages d'alignement et de déplacement (nivellement) angulaires de haute précision. Le microscope optique est équipé de deux chemins optiques distincts, l'un pour le visible et l'autre pour l'infrarouge. Chaque chemin optique comporte plusieurs éléments de lentille avec un grossissement combiné allant jusqu'à 1000x. Le microscope peut mesurer les caractéristiques du dispositif telles que les dimensions géométriques, les propriétés physiques, les performances électriques, la texture de surface, l'épaisseur du film et plus encore. Le chemin visible est également équipé d'une unité de focalisation automatique intégrée pour garantir une résolution optimale de l'image. L'électronique de balayage est capable de détecter et de numériser des signaux provenant de photodiodes. Les signaux sont ensuite traités pour produire des cartes de haute précision des caractéristiques du dispositif de la plaquette. Les capacités de numérisation comprennent le bloc, la distribution, la zone et la numérisation globale. Les données peuvent être exportées vers PC pour une analyse plus poussée ou être utilisées dans le logiciel de profilage d'appareil intégré. FSM est équipé d'étages angulaires et de déplacement de haute précision pour positionner la lentille et les pièces mobiles. Ces étages utilisent une machine d'entraînement XYZ pour ajuster précisément la distance et l'angle entre la lentille et le dispositif testé. L'outil comporte également une cale de nivellement pour l'alignement automatisé de la plaquette pour des essais uniformes. FRONTIER SEMICONDUCTOR est conçu avec commodité et sécurité à l'esprit. Il dispose d'un logiciel de contrôle et d'analyse intégré avec des commandes conviviales, d'un autofocus pour l'acquisition directe d'images, d'un mécanisme de prévention des accidents et d'une lampe halogène 500W qui peut fournir jusqu'à 30min d'éclairage ininterrompu à consommation réduite. Dans l'ensemble, FSM 128L C2C est un actif complet d'essai de plaquettes et de métrologie conçu pour fournir des résultats rapides, précis et fiables nécessaires à l'industrie des semi-conducteurs. Il dispose de diagnostics optiques, d'électronique de balayage, de traitement et de stockage de données, d'étapes de haute précision et de capacités d'auto-focus ainsi que de contrôles conviviaux et de mécanismes de sécurité. FSM/FRONTIER SEMICONDUCTOR peut être utilisé pour mesurer les caractéristiques du dispositif telles que les dimensions géométriques, les propriétés physiques, les performances électriques, la texture de surface, l'épaisseur du film et plus avec une grande précision et répétabilité.
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