Occasion FSM / FRONTIER SEMICONDUCTOR 128L C2C #9191116 à vendre en France
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ID: 9191116
Style Vintage: 2002
Film stress measurement system
Wafer bow
Dual ASYST FOUP loaders, 12"
2D & 3D Wafer mapping
Auto dual laser switching for maximum flexibility
Auto thickness measurement
Brooks robot, 017-0266-01
Controller, 002-9400-04
Pre aligner, 017-0266-01
2002 vintage.
FSM/FRONTIER SEMICONDUCTOR 128L C2C est un équipement d'essai et de métrologie des plaquettes conçu pour l'évaluation des plaquettes d'essai des semi-conducteurs. Le système fonctionne dans un environnement à haute vitesse et à température variable, permettant une analyse complète des plaquettes semi-conductrices. FSM 128L C2C fournit un contrôle précis de la température, de l'humidité et de la pression atmosphérique de la plaquette pendant tout le processus de mesure, garantissant des résultats précis. FRONTIER SEMICONDUCTOR 128LC2C est composé de 3 composants majeurs - une étape d'essai des plaquettes, une étape de mesure et un moteur et une unité de commande. L'étape de test des plaquettes supporte une large gamme de formes, tailles et matériaux d'échantillons et est capable de tester des plaquettes jusqu'à un maximum de 128 mm de diamètre. L'étage de mesure est équipé de capacités de détection optique et électrique pour mesurer avec précision la résistance, le courant, la capacité, les essais de ponts et d'autres mesures électriques. Enfin, le moteur et la machine de commande sont chargés de contrôler le fonctionnement des étapes de test et de mesure, permettant l'acquisition programmable et automatisée de données et l'analyse de métrologie embarquée. Outre les composants ci-dessus, FRONTIER SEMICONDUCTOR 128L C2C offre également une gamme de caractéristiques pour améliorer le tri et la surveillance des plaquettes. L'outil est équipé de caméras intégrées et de logiciels pour faciliter l'alignement et le tri des plaquettes en ligne. Il prend également en charge l'analyse intégrée des données, fournissant aux utilisateurs les outils nécessaires pour identifier et isoler les composants défectueux sur une plaquette d'essai. Enfin, la segmentation automatisée de chaque plaquette en sites mesurés individuellement permet de rapporter des données granulaires très précises. Dans l'ensemble, FSM/FRONTIER SEMICONDUCTOR 128LC2C est un outil de test et de métrologie polyvalent, riche en fonctionnalités et conçu pour permettre des tests précis des plaquettes de test des semi-conducteurs. Avec son fonctionnement à haute vitesse et à température variable associé à des outils robustes de reporting et d'analyse de données, FSM 128LC2C est le modèle idéal pour assurer une production de semi-conducteurs cohérente et fiable.
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