Occasion FSM / FRONTIER SEMICONDUCTOR 128L #293595238 à vendre en France

FSM/FRONTIER SEMICONDUCTOR 128L est un équipement d'essai et de métrologie de plaquettes spécialement conçu pour les procédés de fabrication de semi-conducteurs. Le système utilise un réflectomètre d'imagerie à pleine ouverture qui utilise la dernière technologie de balayage hybride pour fournir une excellente résolution et une précision raisonnable. L'unité peut être utilisée pour le développement, la production et la caractérisation et le contrôle des procédés. Il dispose d'une résolution de sous-microns et d'une chambre de processus automatisée hautement répétable pour les alignements de photomasques, les paramètres critiques de photolithographie et l'optimisation des processus. En outre, la machine permet le traitement de très petites caractéristiques, de nouveaux matériaux, et le dimensionnement et la caractérisation de dispositifs complexes. L'outil est capable d'analyser les paramètres de plus de 300 types différents de dispositifs semi-conducteurs, y compris des mesures de caractéristiques électriques intégrées au processus et au niveau du dispositif. Il peut mesurer des paramètres tels que le courant de fuite, les résistances ohmiques de contact, les tensions planes et les seuils électriques. Avec son miroir vibrant et sa configuration optique basée sur le prisme, FSM 128L peut contrôler la localisation et l'intensité des points indépendamment les uns des autres, ce qui donne des données extrêmement fiables avec des précisions dans la gamme de parties faibles par million (PPM). L'actif dispose d'une capacité de métrologie optique intégrée et d'un ordinateur hôte dédié. FRONTIER SEMICONDUCTOR 128L offre également des capacités de métrologie avancées. Il a la capacité d'identifier et de mesurer et d'étudier les propriétés liées à la performance des structures de défauts de surface au niveau statistique, des éléments, des caractéristiques et des dispositifs. En combinant l'analyse des images de surface des plaquettes, le balayage des étages X-Y, les balayages longitudinaux et les balayages transversaux, le modèle peut recueillir des données pour diverses applications en cours de processus. L'équipement est extrêmement facile à utiliser et à gérer. Son interface graphique intuitive permet un fonctionnement simple mais puissant du système. L'utilisateur peut facilement créer et supprimer des recettes pour le test des plaquettes, ainsi que d'accéder à celles existantes pour visionner ou modifier. 128L est une unité d'essai et de métrologie de wafer de pointe qui excelle dans le développement des processus, la production, la caractérisation et le contrôle des processus, et la métrologie. Avec sa grande précision, sa répétabilité, sa facilité d'utilisation et ses capacités de métrologie avancées, il est un excellent choix pour tout procédé de fabrication de semi-conducteurs.