Occasion FSM / FRONTIER SEMICONDUCTOR 8800 #9400273 à vendre en France

FSM/FRONTIER SEMICONDUCTOR 8800 est un équipement d'essai et de métrologie de plaquettes haute performance, complet et rentable offrant une grande vitesse, des mesures de bruit ultra-faible et une précision de mesure de haute résolution. Ce système offre une large gamme de fonctions de test et de métrologie des plaquettes, ainsi qu'une unité de cartographie et de mesure intégrée qui facilite le test automatisé de plus grands diamètres de plaquettes. La machine d'essai et de métrologie des plaquettes se compose de trois composants principaux, qui comprennent un microscope optique CCD, un cadre de mesure spécialisé très précis et un ensemble électronique intégré à base de microcontrôleurs. Le microscope optique CCD est doté d'un réseau de détecteurs à grande ouverture, à haute résolution et à faible bruit capable de mesurer les performances des structures planaires et verticales sur une large gamme de tailles de plaquettes. Le cadre de mesure intégré permet un alignement précis et répétable de l'optique CCD, permettant un examen critique et la caractérisation des structures d'essai pendant le processus d'essai. L'ensemble électronique à microcontrôleurs offre des capacités de contrôle sophistiquées, permettant un contrôle de précision même pour les mesures les plus détaillées et les plus précises. Le paquet intègre un convertisseur analogique-numérique (ADC) avec une sortie numérique, permettant l'automatisation. De plus, il fournit une alimentation réglable avec un canal interne de régulation de tension, permettant une excellente répétabilité des mesures. Enfin, FSM 8800 offre également une gamme de fonctionnalités logicielles avancées, y compris les paramètres à la volée, la cartographie automatisée, le ciblage accéléré des défauts et diverses autres fonctionnalités qui aident à maximiser l'efficacité du processus de test. En résumé, FRONTIER SEMICONDUCTOR 8800 est un outil de test de plaquettes performant et rentable qui offre la capacité d'effectuer des mesures fiables et précises. Il est équipé d'un microscope optique de pointe, d'un cadre de mesure supérieur et d'une suite de paramètres automatisés et à la volée. Cet atout est parfait pour le test et la caractérisation de wafer ou de composants à haute densité.