Occasion FSM / FRONTIER SEMICONDUCTOR 900 #9293062 à vendre en France

FSM/FRONTIER SEMICONDUCTOR 900 est un équipement d'essai et de métrologie de plaquettes conçu pour fournir des mesures rapides et précises des plaquettes de semi-conducteurs. Le système peut être utilisé pour divers processus de métrologie des plaquettes, comme l'inspection des défauts, la détection des défauts, la localisation des défauts, les mesures de la capacité à la tension (C-V) et les essais paramétriques électriques. Le FSM 900 est équipé d'une unité automatisée de manutention des plaquettes capable de charger les plaquettes dans diverses configurations. Cette machine est capable de détecter et localiser précisément les défauts sur la surface de la plaquette en utilisant des sondes optiques et électriques. Il a également la capacité de surveiller les processus en ligne et d'analyser automatiquement les défauts. L'outil est équipé d'un port de chargement sous vide (VLP) qui permet la manipulation des plaquettes telles que Pick-and-Place sans l'utilisation d'une procédure manuelle. FRONTIER SEMICONDUCTOR 900 est également équipé d'un actif de matriçage avancé qui élimine le besoin de collage manuel des matrices sur la plaquette. Le modèle est également équipé d'un appareil de mesure avancé en C-V qui permet de mesurer avec précision les paramètres électriques des dispositifs semi-conducteurs. Ce système a la capacité de mesurer et d'analyser les courbes C-V avec jusqu'à 10 000 points par seconde. 900 dispose également d'une unité complète de localisation des défauts qui permet de localiser précisément les défauts sur puce et hors puce. La machine est en outre équipée d'un outil d'imagerie optique avancé qui est capable d'effectuer l'imagerie haute résolution des plaquettes. L'atout est également capable d'effectuer des diagnostics sur des plaquettes avec des algorithmes logiciels puissants tels que le seuil adaptatif et la morphologie géométrique. En conclusion, le FSM/FRONTIER SEMICONDUCTOR 900 peut être utilisé pour divers procédés de métrologie des plaquettes. Il est équipé d'un modèle automatisé de manutention des plaquettes, d'un équipement de matriçage, d'un système de mesure C-V et d'une unité de localisation des défauts. Il dispose également d'une machine d'imagerie optique avancée pour l'imagerie haute résolution. Cet outil est capable d'effectuer des mesures précises et rapides de plaquettes semi-conductrices.