Occasion FSM / FRONTIER SEMICONDUCTOR FSM 128 C2C #9248258 à vendre en France

FSM/FRONTIER SEMICONDUCTOR FSM 128 C2C Wafer Testing and Metrology Equipment from FSM (FRONTIER SEMICONDUCTOR) est un contrôleur automatique haute vitesse de métrologie et de test de plaquettes conçu pour fournir des mesures précises, rapides et fiables pour jusqu'à 128 plaquettes à la fois. Le système intègre l'utilisation d'un étage motorisé à 6 axes qui entraíne les plaquettes selon un motif circulaire permettant un positionnement précis des plaquettes au sein de l'unité. Cela garantit une mesure précise des caractéristiques de la plaquette, ce qui, à son tour, permet à la machine de fonctionner efficacement et avec la précision attendue. L'outil est équipé d'une technologie de fixation de filière propriétaire qui permet le chargement et le déchargement automatiques des plaquettes et de la filière. Cela garantit un processus lisse pour tester chaque plaquette et permet de réduire le gaspillage d'espace de plaquette. L'actif utilise la reconnaissance de vision avancée et l'analyse des plaquettes pour fournir une lecture précise de la matrice tout en minimisant le potentiel d'erreurs. Cela garantit que les tests effectués sur les plaquettes sont précis et cohérents, ce qui permet d'économiser du temps et des coûts. Le modèle utilise également des techniques de métrologie laser pour mesurer les formes, les tailles et les motifs de la surface de la plaquette. Cela permet des mesures plus précises et précises par rapport aux méthodes traditionnelles. Les techniques de métrologie au laser permettent également de mesurer les caractéristiques des plaquettes beaucoup plus rapidement que les méthodes manuelles, en veillant à ce que le débit ne soit pas compromis. Enfin, l'équipement est compatible avec une grande variété de produits et de pièces, ce qui en fait un outil très polyvalent. Il peut être utilisé pour différents types de plaquettes et de pièces telles que mémoire, CPU, circuits imprimés et micropuces. Ce haut degré de compatibilité garantit que le système peut être utilisé pour un large éventail de tests et est un grand atout pour toute organisation. En conclusion, FSM FSM 128 C2C Wafer Testing and Metrology Unit est une machine d'essai et de métrologie de plaquettes à haute vitesse, efficace et rentable conçue pour fournir des résultats précis et précis sur une large gamme de produits et de pièces. L'outil utilise des technologies de pointe telles que la fixation, la reconnaissance visuelle et la métrologie laser ainsi qu'un étage motorisé à 6 axes pour atteindre ses hauts niveaux de performance. Avec ses utilisations polyvalentes et son coût abordable, FRONTIER SEMICONDUCTOR FSM 128 C2C est un excellent choix pour toute organisation cherchant à tester et mesurer des composants rapidement et avec précision.