Occasion FSM / FRONTIER SEMICONDUCTOR FSM 128 #293822788 à vendre en France

FSM/FRONTIER SEMICONDUCTOR FSM 128 de FSM est un équipement d'essai et de métrologie de plaquettes conçu pour fournir une métrologie précise et précise sur les plaquettes et les meurent. Un système d'essai et de métrologie de plaquettes, tel que FSM 128, est utilisé pour mesurer avec précision les caractéristiques électriques, optiques et physiques des circuits intégrés (IC) au niveau de la filière. FRONTIER SEMICONDUCTOR FSM-128 est équipé d'un moteur de détection avancé qui utilise la détection et l'interpolation traditionnelles des bords, ainsi que les dernières techniques de conception et d'analyse pour détecter les défauts. L'unité utilise des outils avancés de mesure de géométrie pour identifier les zones critiques de la puce où les écarts par rapport à la conception peuvent causer des dysfonctionnements ou des pertes de rendement. Il utilise ensuite une combinaison de techniques d'imagerie pour effectuer l'inspection et la mesure de ces zones critiques. FRONTIER SEMICONDUCTOR FSM 128 est construit avec une plate-forme modulaire, permettant aux clients de personnaliser la machine et de sélectionner les fonctionnalités dont ils ont besoin sur leur outil de test de plaquettes et de métrologie. Cette plate-forme modulaire permet également aux clients d'obtenir un degré plus élevé de flexibilité dans la configuration des actifs. FSM/FRONTIER SEMICONDUCTOR 128 dispose également d'une gamme de capacités d'acquisition d'images de pointe. Avec l'étage de la caméra, FSM FSM 128 peut capturer des images plein champ de la surface de la matrice. Il dispose également d'un module automatisé de piquage d'images qui permet de piéger automatiquement les images individuelles de matrices distinctes, ce qui permet à un utilisateur de visualiser la totalité de la surface de la matrice en une seule image. FSM/FRONTIER SEMICONDUCTOR FSM-128 dispose également d'une fonction d'inspection automatisée des défauts, qui permet une inspection et une analyse simplifiées des échantillons. Il peut détecter une gamme de défauts, y compris les extrémités de ligne, le matériau étranger, les rayures et les shorts. En outre, FSM-128 comprend une variété de capacités de mesure, telles que les mesures électriques, la réflectance optique, le courant d'obscurité, la luminosité, et d'autres. Ces capteurs avancés permettent une mesure plus fine que les systèmes traditionnels et offrent une précision et une répétabilité plus élevées. De plus, le modèle peut mesurer l'épaisseur des diélectriques électriques, ce qui permet une caractérisation plus précise des IC. Il peut également mesurer l'uniformité de la surface de la filière, ce qui est important pour l'assurance de la qualité du produit. Au total, 128 de FRONTIER SEMICONDUCTOR est un équipement avancé d'essai et de métrologie de plaquettes conçu pour fournir une métrologie précise et précise sur les plaquettes et les matrices. Grâce à sa conception modulaire, à son moteur de détection haut de gamme, à son contrôle automatisé des défauts, à ses capacités avancées d'acquisition et de mesure d'images, FSM FSM-128 offre aux clients une solution complète pour leurs besoins en matière d'essais de plaquettes et de métrologie.