Occasion GCA / TROPEL II-150 #9285600 à vendre en France

L'équipement d'essai et de métrologie de plaquettes GCA/TROPEL II-150 est une solution avancée et hautement automatisée pour la métrologie de surfaces planes planes de dispositifs semi-conducteurs, tels que des plaquettes de silicium. Il effectue une variété de mesures critiques de surface avec une grande précision, en utilisant un microscope optique à faible grossissement intégré avec des composants d'étage, d'alignement et d'imagerie. GCA II-150 a une plage dynamique maximale allant jusqu'à 300 microns et peut mesurer de très petits à très grands modèles. Il peut mesurer jusqu'à 8 × 10 appareil et il est conçu pour minimiser l'influence de l'opérateur sur la précision des résultats. Le système comprend une unité d'imagerie de saisie de trame avancée qui permet l'acquisition simultanée d'images multiples d'une même surface, permettant d'améliorer la qualité de l'image et l'optimisation automatique des conditions d'imagerie. TROPEL II-150 utilise un balayage d'alignement en 4 points tech-nique pour l'enregistrement automatique d'images multiples. Cela permet à la machine de cartographier toute la zone avec une précision de niveau micron. L'outil comprend également une gamme d'outils d'analyse pour l'imagerie 3D, permettant de détecter des défauts de surface, à partir de matériaux étrangers ou d'irrégularités, aussi petites que 10 nm. L'actif comprend un puissant émetteur de surface planaire automatisé, fournissant une capacité critique pour mesurer les surfaces structurées. Cette caractéristique garantit des résultats cohérents et reproductibles pour les mesures de planéité et permet une réplication plus précise des formes complexes. La technologie Total Focus du modèle acquiert toutes les données de plusieurs profondeurs à l'intérieur de l'appareil simultanément, ce qui permet une meilleure caractérisation de la surface. II-150 est un équipement facile à utiliser et très fiable, qui garantit des résultats précis et reproductibles pour la mesure de toute surface plane. Il est bien adapté pour une utilisation dans n'importe quel environnement de fabrication de semi-conducteurs et est une solution rentable pour la métrologie et les essais de plaquettes.