Occasion GMTECH Semichem #9395375 à vendre en France

ID: 9395375
Measurement system IonChem AnaChem APM 200 Floormount assembly dimension (W x D x H): 29" x 24" x 75.7" 90mL Measuring cell with mixer motor RS232 Ethernet USB (4) Analog outputs: 20mA (8) Displayed outputs (8) Relay contacts for alarms PLC Handshaking (3) Digital burettes: 5mL Start up kit Manual.
GMTECH Semichem est un équipement d'essai et de métrologie de plaquettes conçu pour effectuer des mesures précises des caractéristiques de surface des plaquettes. Il peut mesurer un large éventail de caractéristiques à l'échelle du nanomètre, telles que les largeurs de raies et la précision de recouvrement, en utilisant la spectroscopie aux rayons X et les techniques de spectroscopie électronique. Le système a l'avantage d'être à la fois précis et rapide, permettant aux ingénieurs d'obtenir rapidement les données dont ils ont besoin pour analyser l'efficacité de leurs processus de conception. Semichem peut mesurer des caractéristiques de surface sur une surface de la plaquette jusqu'à 5 millimètres de diamètre avec une grande précision. Il utilise plusieurs systèmes optiques à rayons X qui comprennent des sources de rayons X, des diffractomètres à rayons X et des détecteurs de rayons X. Les sources de rayons X génèrent des impulsions de rayons X qui interagissent avec les caractéristiques de surface de la plaquette, créant des motifs de diffraction qui peuvent être analysés pour calculer les largeurs de raies et la précision de recouvrement. Le détecteur de rayons X capture alors la diffraction et renvoie les données à l'unité d'analyse, où les ingénieurs peuvent interpréter les données et effectuer les ajustements nécessaires à leur processus de conception. La machine est également capable d'effectuer des analyses de plaquettes au microscope optique. Cela comprend des utilisations telles que l'inspection des défauts, l'examen de la topographie de surface et la détermination de l'épaisseur des couches minces. Ce type d'analyse peut être effectué sur une large gamme de grossissements, permettant un examen complet de la surface de la plaquette. Les images au microscope peuvent être utilisées pour guider l'analyse des données de métrologie afin de s'assurer qu'elles sont correctes et significatives. L'outil Semichem GMTECH est conçu pour être convivial et efficace. Il dispose d'une bibliothèque de physique intégrée contenant des paramètres spectroscopiques de base, garantissant que les ingénieurs obtiennent un résultat précis avec un minimum d'effort et de temps. Il dispose également d'une interface graphique intuitive, permettant aux utilisateurs de configurer l'actif pour répondre à leurs exigences exigeantes. Le modèle est également disponible avec des sous-systèmes intégrés de métrologie, tels que source de rayons X et microscope optique, permettant d'améliorer les résultats sans nécessiter de matériel supplémentaire. L'équipement Semichem est idéal pour la conception et la production de semi-conducteurs, où il peut fournir des données essentielles pour guider et améliorer les processus. Sa grande précision et sa vitesse permettent aux ingénieurs d'ajuster et d'adapter rapidement leurs conceptions afin d'assurer un rendement, un rendement et une rentabilité maximaux. En outre, ses fonctionnalités intuitives et conviviales le rendent adapté à l'utilisation par les ingénieurs de tous les niveaux de compétence.
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