GOM (Test de Wafer et métrologie) d'occasion à vendre

GOM, un fabricant de renom, propose des équipements de test et de métrologie des plaquettes qui jouent un rôle essentiel dans la qualité et la précision des plaquettes semi-conductrices. Ces systèmes sont conçus pour mesurer divers paramètres et caractéristiques de surface des plaquettes, permettant des essais et des analyses complets. L'un des principaux produits de GOM est le système ATOS III Triple Scan, qui utilise la technologie avancée de balayage 3D pour capturer les données de surface à haute résolution des plaquettes. Ce système offre des mesures rapides et précises, permettant un contrôle de qualité efficace lors des processus de fabrication des plaquettes. Il fournit également des caractéristiques complètes d'analyse des données pour une évaluation approfondie. Un autre système notable de GOM est l'ATOS SO 4M, qui est conçu spécifiquement pour les plaquettes semi-conductrices. Ce système intègre le balayage haute résolution et offre des capacités de mesure détaillées, permettant d'évaluer des caractéristiques critiques telles que l'épaisseur du film, le profil de surface et la topographie. Il garantit des résultats d'essai fiables et précis, contribuant à améliorer la qualité des plaquettes et l'efficacité de la production. Les unités d'essai et de métrologie des wafers de GOM présentent plusieurs avantages, notamment les techniques de mesure sans contact, l'acquisition de données à grande vitesse et les capacités d'automatisation. Ces machines permettent l'inspection de plaquettes aux géométries complexes et peuvent traiter rapidement de grands volumes de données. En outre, ils fournissent des résultats de mesure traçables et reproductibles, assurant une évaluation précise des propriétés des plaquettes et minimisant les défauts de production. Dans l'ensemble, les outils de test et de métrologie des plaquettes de GOM, tels que ATOS III Triple Scan et ATOS SO 4M, offrent des solutions avancées et fiables pour un contrôle complet de la qualité et une mesure précise des plaquettes semi-conductrices.