Occasion HANDTMANN PBZ DL 5 #9043099 à vendre en France

HANDTMANN PBZ DL 5 est un équipement d'essai et de métrologie des plaquettes de haute précision offrant une excellente analyse et inspection des ICs et des plaquettes. Il est conçu pour tester et caractériser les défauts de niveau de la plaquette, la contamination des particules, etc. qui causent une perte de rendement. PBZ DL 5 intègre un certain nombre de caractéristiques importantes pour améliorer la précision et la rapidité de l'analyse et de l'inspection. Il comprend une échelle de précision mise en place pour mesurer l'épaisseur de la plaquette avec une résilience de 1 μ m. Le système est équipé d'un module optique de précision et d'un design ergonomique, qui permet un alignement précis et rapide des plaquettes et des IC. La résolution latérale sub-micron est obtenue par un mélange d'amélioration optique et d'une unité de balayage à grande vitesse. En outre, HANDTMANN PBZ DL 5 dispose d'un large éventail d'outils d'analyse et de caractérisation des défauts pour fournir une analyse complète des défauts. Il est également équipé d'une technologie de diagnostic de défaut révolutionnaire pour la contamination des particules et les défauts de niveau des plaquettes. Cette technologie est utilisée pour détecter les pannes électriques dues à des particules microscopiques et à des motifs d'image de balayage pour l'analyse des défauts des trous traversants. De plus, sa capacité de détection des particules permet de mesurer avec précision la taille, l'emplacement et le nombre de particules, ce qui aide à identifier la source de contamination des particules. PBZ DL 5 dispose d'une option AccuPatch, qui est une puissante machine d'acquisition de données qui fournit la capacité d'analyse de données et le soutien pour le processus de diagnostic de défaut. Cela permet d'accélérer le processus de diagnostic des défauts et de prévenir les problèmes de perte de rendement. En outre, HANDTMANN PBZ DL 5 dispose d'une gamme d'outils de métrologie tels que les tests paramétriques, les tests sur puce et l'imagerie au microscope électronique à balayage (SEMI). Cela aide à fournir une métrologie complète des wafers et des IC avec une évaluation efficace et fiable, permettant une analyse complète des IC et des wafers. Enfin, son progiciel de pointe est compatible avec les outils CAD/CAE/FEA/analogique/RF qui facilitent le processus de développement. L'intégration de logiciels tiers permet une analyse plus complète des données. Avec la combinaison de différentes fonctionnalités, PBZ DL 5 offre une combinaison unique de fonctionnalités pour le test de plaquettes et la métrologie.