Occasion HANRA HRI 580L #293635049 à vendre en France

HANRA HRI 580L est un équipement spécialisé d'essai et de métrologie des plaquettes conçu pour caractériser les matériaux semi-conducteurs. Le système dispose d'un microscope optique, d'un microscope laser à balayage unique et d'une station d'écriture qui permet de tester automatiquement les plaquettes. Cette unité est adaptée pour l'observation nanométrique des dispositifs nanoélectroniques, la mesure de la topographie, des propriétés électriques, et plus encore. Le module Laser Scanning Microscope (LSM) utilise un microscope optique combiné avec l'optique laser pour mesurer la topographie, permettant une résolution aussi faible que 1nm sur une image de grande surface. Cette machine permet d'identifier les défauts des plaquettes et de surveiller la morphologie de la surface. Le LSM garantit également que les images balayées contiennent des coordonnées précises grâce à la technologie de positionnement laser. La station d'écriture automatisée de HRI 580L permet des tâches d'écriture très précises sans opération manuelle. Il utilise des jets correcteurs alignés sur la trajectoire d'écriture souhaitée et peut atteindre un minimum de résolutions d'écriture précises en microns. Cette station d'écriture permet des tâches automatisées au niveau de la plaquette telles que l'analyse topographique, l'étalonnage de superposition et l'analyse des propriétés électriques. HANRA HRI 580L est conçu pour des applications de test et de métrologie haut de gamme et fournit toutes les fonctionnalités nécessaires à ces fins. Il le fait avec une interface tactile intégrée, et des composants de haute spécification qui garantissent la précision et la fiabilité. L'outil a une surface de travail jusqu'à 10 pouces de diamètre, permettant l'évolutivité de tâches plus grandes. En outre, l'actif dispose d'une large gamme dynamique, permettant une plus grande flexibilité et une plus grande gamme d'applications. Dans l'ensemble, HRI 580L est un modèle spécialisé d'essai de plaquettes et de métrologie conçu pour caractériser les matériaux semi-conducteurs. L'équipement est composé d'un microscope optique, d'un microscope laser à balayage et d'une station d'écriture automatisée. Cette combinaison de caractéristiques permet de tester avec précision et fiabilité les observations de niveau nanométrique des dispositifs nanoélectriques, la topographie, les propriétés électriques, et plus encore. En tant que tel, ce système est une solution haut de gamme pour un large éventail d'applications de test de plaquettes et de métrologie.