Occasion HEIDENHAIN ND 281B #293643227 à vendre en France

HEIDENHAIN ND 281B est un équipement complet d'essai et de métrologie de plaquettes qui utilise une technologie basée sur l'interférence laser pour mesurer de manière non destructive les propriétés de surface locales des plaquettes à semi-conducteurs. Le système fournit une répétabilité et une précision à long terme pour la génération de données sur les contours de surface, les défauts de surface et la topographie de surface. ND 281B comprend un étage de translation de haute précision de 500 mm x 600 mm avec une résolution de pas de 5 nm, permettant des niveaux élevés de précision et de répétabilité. Il comprend également une unité de mouvement dans le plan avec une résolution de gamme de sous-microns. En outre, la machine utilise un interféromètre laser avec des bandes passantes fonctionnant jusqu'à 100 kHz pour une résolution de sous-microns et des mesures rapides. L'outil est compatible avec une variété d'objectifs, tels que les configurations d'huile et d'air, compatibles avec n'importe quelle gamme de champs d'objets. Pour les essais, l'actif offre un éclairage de haute intensité jusqu'à 0,1 mW/cm2. Pour le balayage et la métrologie, le modèle offre trois régimes de balayage différents : 2D-scanning, 3D-scanning et le balayage offset qui peuvent être utilisés pour mesurer dans un modèle spécifique. Les motifs de balayage sont générés avec un langage de programmation graphique de haut niveau et sont facilement adaptables à différentes mises en page physiques. En outre, l'équipement peut être utilisé pour tester des échantillons semiconducteurs multicouches et est également capable de mesures d'impulsions standard sur des dispositifs à haute densité. Le logiciel du système fournit une suite complète d'analyses d'images, de résumés de données et d'outils de mesure pour analyser et interpréter les données des mesures. Le logiciel fournit également des fonctionnalités graphiques de post-traitement, telles que l'ajustement de courbe, pour l'analyse de données supplémentaires. En outre, le logiciel offre une interface de communication de données de haut niveau à la fois pour l'entrée et la sortie, ce qui facilite son intégration avec les systèmes et bases de données existants. Dans l'ensemble, HEIDENHAIN ND 281B wafer testing and metrology unit est un outil puissant pour mesurer les propriétés de surface locales des wafers semi-conducteurs. Ses capacités de balayage supérieures et son langage de programmation graphique permettent des mesures rapides et précises des appareils haute densité, tandis que son logiciel simpliste fournit des fonctions complètes d'analyse d'image et de synthèse de données, ce qui le rend adapté à une gamme d'applications.