Occasion HERMES MICROVISION / HMI Epointer2 #293616965 à vendre en France

HERMES MICROVISION/HMI Epointer2 est un équipement d'essai et de métrologie de plaquettes conçu pour permettre des capacités de mesure avancées et un débit plus élevé dans les laboratoires de métrologie des semi-conducteurs. Le système est capable d'analyser une variété de matériaux, y compris des films semi-conducteurs, des couches épitaxiales, des oxydes de grille MOS et des topographies de contact, à l'aide d'une inspection microscopique optique avancée. L'unité intègre une machine de manutention/exportation de plaquettes entièrement automatisée, permettant une transition transparente entre le chargement et les mesures. Le bras robotique permet le transfert rapide, le positionnement et l'alignement des plaquettes pour le test, contribuant à réduire les temps de test et à améliorer la productivité. Le logiciel de configuration optique innovant et de configuration intuitive permet de prendre des mesures précises et précises, rapidement et avec précision, sur toute la surface de la plaquette. L'outil HMI Epointer2 utilise un microscope optique haute résolution avec un ensemble de techniques de mesure en constante expansion, permettant l'acquisition et l'analyse de données avancées et hautement sensibles. L'actif comprend un interféromètre laser intégré, un portefeuille d'imagerie laser, des filtres d'imagerie optique avancés et une capacité de balayage à large champ et offre une variété d'options pour l'analyse des données, y compris des algorithmes automatisés et l'interaction manuelle. Le modèle dispose également d'une option de sondes en temps réel et dynamique, permettant l'analyse et le test mono-dispositif des structures de transistors. Les données sont présentées graphiquement, afin de permettre une analyse et un diagnostic rapides et faciles. L'interface intuitive point-and-click permet une configuration et un contrôle faciles, fournissant des mesures précises et des tests accélérés. L'équipement dispose également d'un environnement logiciel intégré avancé, qui est conçu pour permettre la création et la personnalisation des paramètres de test, ce qui en fait un outil particulièrement puissant pour le test de précision des plaquettes. En outre, le logiciel et le système de gestion des données basés sur PC robustes permettent l'alignement précis et le traitement des données des échantillons, fournissant une base puissante pour l'acquisition et l'analyse des données. HERMES MICROVISION Epointer2 est une unité de test et de métrologie très avancée, offrant un large éventail de capacités ainsi qu'un traitement et une analyse avancés des données, permettant des tests plus précis et plus rapides. Cette machine est capable de répondre aux exigences rigoureuses d'un large éventail d'applications, et fournit une solution complète et rentable pour les essais de plaquettes dans les laboratoires de métrologie des semi-conducteurs.