Occasion HEXAGON METROLOGY Global Vantage #9363428 à vendre en France

HEXAGON METROLOGY Global Vantage est un puissant équipement de test et de métrologie de plaquettes conçu pour l'industrie des semi-conducteurs à haut volume. Il utilise une technologie de pointe pour mesurer et détecter avec précision les défauts sur les plaquettes et les substrats. Le système dispose de capacités d'inspection complètes et utilise des technologies 2D et 3D pour détecter un large éventail de défauts potentiels. Global Vantage offre une unité d'inspection optique automatisée pour une inspection de surface efficace et précise des plaquettes à semi-conducteurs et à mémoire. Il est équipé de procédés intégrés pour identifier divers types de défauts tels que les rayures, les particules étrangères et les fissures sur les plaquettes et les substrats. La machine dispose également d'une technologie complète de fusion d'images CCD qui permet à l'utilisateur de combiner les vues frontales et latérales de chaque plaquette pour mieux l'analyser. L'outil offre également un certain nombre de solutions sophistiquées de métrologie de plaquettes. Son actif de cartographie de la surface de la plaquette fournit des mesures précises de la topographie d'une plaquette ou d'un substrat. Il prend également en charge un large éventail de techniques d'inspection avancées telles que SEM, FIB, AFM et nanoscopie, permettant aux utilisateurs d'identifier rapidement les défauts microscopiques dans les applications semi-conductrices les plus exigeantes. Ce modèle puissant et précis est conçu pour fonctionner avec un minimum de temps d'arrêt et offre une large gamme d'options de configuration d'équipement. La conception compacte et l'intégration facile du système le rendent adapté à tout environnement de production de semi-conducteurs. Il dispose également d'une interface logicielle commune avec accès à distance, de sorte que les utilisateurs peuvent accéder et configurer tous les sous-systèmes de n'importe quelle station informatique. MÉTROLOGIE HEXAGON Global Vantage est un outil puissant et fiable pour détecter les défauts sur les plaquettes et les substrats. Ses solutions de métrologie sophistiquées et ses capacités d'inspection optique automatisée offrent un niveau d'assurance qualité inégalé pour les environnements de production de semi-conducteurs les plus exigeants. Qu'il soit utilisé pour la cartographie de surface des plaquettes, l'inspection des défauts ou pour des solutions de métrologie avancées, Global Vantage est l'unité idéale pour l'industrie des semi-conducteurs à haut volume.