Occasion HITACHI G-S006-02-0012 #9377468 à vendre en France

HITACHI G-S006-02-0012 est un équipement d'essai et de métrologie de plaquettes qui offre une précision élevée et une répétabilité supérieure pour garantir un rendement maximal dans la fabrication de semi-conducteurs. Le système offre d'excellentes performances, fiabilité et rentabilité pour répondre aux exigences croissantes de l'industrie des semi-conducteurs. G-S006-02-0012 est une unité entièrement automatisée qui peut tester rapidement et avec précision les plaquettes semi-conductrices pour la forme, la taille et d'autres propriétés physiques. Il est équipé d'une station de sonde de type contact, d'une microscopie optique numérique, de détecteurs analytiques à haute résolution et d'un contrôleur embarqué avancé pour fournir des tests rapides et précis. La machine est construite sur un cadre compact qui prend un espace minimal et réduit les coûts. En outre, HITACHI G-S006-02-0012 possède un large éventail de matériaux applicables, y compris des plaquettes de type simple hémisphérique, de type SCUBA et SOIC. La station de sonde de type contact on G-S006-02-0012 est utilisée pour mesurer les dimensions physiques des dispositifs semi-conducteurs. Il comporte une série de sondes qui sont placées manuellement en contact direct avec la surface de la plaquette. Les sondes sont équipées de capteurs capacitifs et inductifs pour détecter la forme, la taille et les autres caractéristiques physiques exactes de la plaquette. Le poste de sonde de type contact comporte également un étage linéaire de haute précision qui permet un déplacement précis des sondes à travers la plaquette. La microscopie optique numérique fournie par HITACHI G-S006-02-0012 permet l'inspection microscopique des caractéristiques de surface des plaquettes. L'outil est équipé d'un atout optique composé avancé pour capturer des images haute résolution de la surface de la plaquette. Les images peuvent ensuite être analysées en utilisant des techniques de traitement d'image pour détecter des défauts mineurs tels que des fissures et des micro-contours. Le modèle offre également une large gamme de modes opérationnels, tels que l'inspection multicouche, le zoom de niveau pixel et l'imagerie fundus. G-S006-02-0012 utilise également une variété de détecteurs analytiques pour quantifier avec précision les propriétés électriques de la plaquette. Il s'agit notamment du détecteur à large étendue de balayage à haute portée (HRSA) et du détecteur d'imagerie à balayage (SWID). La HRSA est utilisée pour mesurer la résistance et la capacité de la surface de la plaquette, tandis que la SWID peut identifier et localiser de petites fluctuations de la tension. Les deux détecteurs jouent un rôle important pour assurer la qualité des dispositifs semi-conducteurs produits. HITACHI G-S006-02-0012 fournit une solution complète pour l'essai de plaquettes et la métrologie. Sa conception intégrée, ses fonctionnalités avancées et ses détecteurs sophistiqués offrent des performances optimales à un prix rentable. L'équipement permet aux fabricants de tester et d'inspecter rapidement et avec précision les plaquettes pour vérifier leur forme, leur taille et d'autres propriétés physiques, tout en assurant un rendement maximal dans la fabrication des semi-conducteurs.