Occasion HITACHI PD 2000 #293820661 à vendre en France

HITACHI PD 2000 est un équipement d'essai de plaquettes et de métrologie conçu pour les fabricants de semi-conducteurs afin d'obtenir un contrôle optimal des processus et de soutenir la gestion du rendement. Il s'agit d'un système d'inspection de surface des plaquettes à grande vitesse et précision qui peut être utilisé pour mesurer les caractéristiques topographiques des surfaces des plaquettes avec plus de précision que les méthodes traditionnelles. Au cœur de l'unité se trouve l'optique ; un microscope optique avec étage de balayage XY automatisé et une LED d'éclairage spectral. Grâce à cela, la machine peut visualiser la surface sous différents angles et mesurer avec précision les hauteurs des différentes caractéristiques en déterminant leur teinte et leur intensité. De plus, HITACHI PD-2000 est également capable d'imagerie 3D, et il peut afficher des cartes de topographie ultra-faible-rugosité pour révéler plus précisément les effets de bord de ligne. D'autres caractéristiques de l'outil comprennent un mode de mesure à grande vitesse, qui peut balayer une plaquette de 150 mm en moins de 50 secondes ; un actif d'auto-étalonnage complet capable d'ajuster correctement les conditions de mesure et d'assurer l'exactitude des résultats ; et un modèle automatique de notification des défauts, qui peut aider à réduire les inconvénients liés au marquage manuel de la quantité de défauts. PD 2000 fournit également un logiciel complet, qui peut soutenir l'analyse de l'image tridimensionnelle et commenter le modèle de données, ainsi que l'interface avec les systèmes SEMI MES et SCADA existants pour l'intégration dans l'équipement existant du client. En conclusion, PD-2000 offre une grande vitesse, une mesure fiable, précise et précise de la surface de la plaquette avec la capacité pour l'imagerie tridimensionnelle. Ce système offre une grande valeur aux entreprises de fabrication de semi-conducteurs en termes d'optimisation du contrôle des processus et de rétroaction en temps opportun sur les erreurs, les défauts et les défauts.