Occasion HOMMEL-ETAMIC W10 #293755236 à vendre en France
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ID: 293755236
Surface profile roughness gauge
Type: Skidded pick up
Maximum traversing length 17.5 mm, Cut Off 0.25 / 0.8 / 2.5 / mm
(40) Surface roughness parameters according to DIN EN ISO 4287, DIN EN ISO 13565, ISO 12085 and JIS B601 MOTIF
(7) Measuring programs with individual measurement / evaluation conditions
Touch screen: 4.3" (11 cm) color
Display of parameters, profiles, material ratio and statistical data
Integrated printer with Easy-Paper-Loading function
Memory for 2000 readings and 500 profiles for each measuring program
USB - interface for PC connection
Operation: Cord/cordless
Base unit with rest and barrel jack
Traverse unit LV17, 17.5 mm tracing length, tripod legs
Pick up T1E, 2μm/90°, skid radius 30/1.95 mm
Integrated surface roughness standard with data sheet
Calibration Certificate for the instrument
2 Rolls of printer paper
Probe protection with lighting
Support prism for small shafts
Charger/AC Adapter: 100 V to 240 V
USB Cable
Instruction manual.
HOMMEL-ETAMIC W10 est un équipement avancé d'essai et de métrologie de plaquettes qui offre des capacités de mesure très précises et précises pour évaluer la qualité et les performances des plaquettes semi-conductrices. Ce système est conçu pour répondre aux exigences exigeantes de l'industrie des semi-conducteurs, fournissant une solution complète pour l'inspection, les essais et l'analyse des plaquettes. Au cœur de l'unité W10 se trouve une plate-forme de métrologie sophistiquée qui utilise des technologies de pointe pour mesurer les paramètres clés des plaquettes semi-conductrices avec une précision exceptionnelle. La machine est équipée d'une gamme de capteurs et de modules de mesure qui permettent aux utilisateurs d'évaluer divers aspects de la qualité des plaquettes, tels que la rugosité de surface, la planéité, l'épaisseur et la détection des défauts. Une des caractéristiques clés de l'outil HOMMEL-ETAMIC W10 est ses capacités d'imagerie haute résolution, qui permettent aux utilisateurs de capturer des images détaillées de surfaces de plaquettes à des niveaux microscopiques. Cela permet d'identifier et d'analyser les défauts, contaminations ou irrégularités susceptibles d'affecter les performances des plaquettes. L'actif offre également des algorithmes d'imagerie avancés et des outils de traitement d'image pour améliorer la qualité de l'image et extraire des données précieuses des images. En plus des capacités d'imagerie, le modèle W10 est équipé d'outils de mesure précis qui permettent aux utilisateurs de quantifier des paramètres importants comme la rugosité de surface et la planéité. L'équipement utilise diverses techniques de métrologie, y compris le profilage stylé, l'interférométrie optique et le balayage laser, pour mesurer avec précision la topographie des surfaces des plaquettes et fournir des informations détaillées sur les caractéristiques de surface. En outre, le système HOMMEL-ETAMIC W10 offre des routines de mesure et d'analyse automatisées qui simplifient le processus de test et garantissent des résultats cohérents et fiables. L'unité peut être programmée pour effectuer des mesures répétitives sur plusieurs plaquettes, permettant une collecte et une analyse efficaces des données. En outre, la machine dispose d'interfaces logicielles conviviales qui permettent le fonctionnement intuitif et la visualisation des données pour les utilisateurs de tous les niveaux de compétence. Une autre caractéristique notable de l'outil W10 est sa polyvalence et son évolutivité, ce qui permet aux utilisateurs de personnaliser l'actif pour répondre à des exigences de test spécifiques et de s'adapter à différentes tailles et types de plaquettes. Le modèle peut être équipé de modules et d'accessoires supplémentaires pour augmenter ses capacités de mesure et répondre aux besoins spécifiques d'essais dans l'industrie des semi-conducteurs. Dans l'ensemble, l'équipement HOMMEL-ETAMIC W10 représente une solution de pointe pour les essais de plaquettes et la métrologie, offrant une technologie de pointe, des capacités de mesure précises et un fonctionnement convivial. Avec ses fonctionnalités complètes et ses options personnalisables, le système est bien adapté aux fabricants de semi-conducteurs, aux établissements de recherche et aux laboratoires d'essai qui cherchent à garantir la qualité et la fiabilité de leurs plaquettes semi-conductrices.
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