Occasion HOMMEL T2000 #170931 à vendre en France
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ID: 170931
Surface profile roughness gage
Includes:
Hommel Tester T 2000 Control Unit
Hommel LV-100 Profilometer Head
Hommel PM2 with tip as shown
Hommel PMR 250 Chart Recorder Printer
MSC-2 Remote Control Unit
(3) Additional Tips:
TKE-100-2
TKL-300
TKL-100-2
(2) Probe Tip Adapters
(1) Probe Extension Adapter
(3) Calibration Surfaces
(2) Start/Stop Keys
(1) Vibraplane Pneumatic Vibration Isolation Table
(1) Rock of Ages Granite Base
Connection cables
Several Manuals including Operation and Theory of Operation
Dust covers.
Les équipements de test et de métrologie HOMMEL T2000 sont conçus pour la manipulation efficace et puissante des plaquettes semi-conductrices jusqu'à 150 mm de diamètre. Ce système fournit des résultats précis pour l'évaluation des caractéristiques électriques, physiques et optiques des plaquettes semi-conductrices. L'unité est équipée de technologies de pointe telles que la réflectométrie des neutrons, le faisceau d'ions focalisés (FIB), la microscopie électronique à balayage (SEM) et l'imagerie au microscope optique. T2000 dispose d'une chambre de test automatisée équipée d'une machine de manutention mécanique intégrée des plaquettes, d'une tête de métrologie de précision et de plusieurs chambres de mesure. Il est conçu pour fournir jusqu'à 3,2 μ m de résolution latérale et jusqu'à 1 μ m de résolution de profondeur. L'outil fournit également un débit élevé, avec un cycle de mesure de seulement 0,4 s. Cela signifie que des centaines de plaquettes peuvent être traitées en peu de temps. Avec des capacités thermiques avancées, il est capable d'effectuer des cycles de température allant jusqu'à 200 ° C La précision est essentielle dans la fabrication des semi-conducteurs, et HOMMEL T2000 fournit des mesures précises et approfondies de métrologie des caractéristiques jusqu'à 500nm de taille, même à la périphérie des plaquettes. L'actif offre également une gamme d'outils logiciels, y compris AutoAlign Pro, algorithmes d'analyse SPM et logiciel de traitement d'image. Tous ces traits permettent à T2000 d'exécuter des épreuves multiples, en incluant le CD, l'épaisseur et les mesures de rugosité, la caractérisation de forme 3D, les mesures de dimension critique (CD), la surface topology et l'analyse de défaut. HOMMEL T2000 fournit également des mesures sans contact pour mesurer et analyser le contraste, la couleur et la luminosité de l'image. Ce modèle très efficace convient à différents types d'échantillons de plaquettes, de la mécanique à l'optique et des applications microélectroniques à optiques. D'autres caractéristiques telles qu'un changeur d'outil motorisé intégré, un équipement de focalisation automatique et un chargement/déchargement automatique des échantillons pour la manipulation de grands lots de plaquettes, améliorent la qualité et la rapidité des résultats des essais et de la métrologie. Dans l'ensemble, T2000 est un excellent système pour effectuer des essais de plaquettes et de métrologie. Avec ses caractéristiques mesurables et ses capacités de haute résolution, il est capable de fournir des mesures de qualité et de précision avec un débit élevé. Cette unité est idéale pour les exigences d'essai et de métrologie de l'industrie des semi-conducteurs.
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