Occasion HOMMEL T2000 #9095342 à vendre en France

ID: 9095342
Surface profile roughness gauge.
HOMMEL T2000 Wafer Testing and Metrology Equipment est un système multifonctionnel haute performance conçu pour le contrôle avancé des processus semi-conducteurs et la métrologie sur le terrain. Offrant une gamme complète de capacités d'essai et de métrologie automatiques des plaquettes, l'unité offre une gamme complète de mesures rapides et précises pour détecter et identifier les défis liés à la cohérence des processus et des produits. T2000 dispose de capacités avancées d'imagerie des plaquettes, y compris l'imagerie haute résolution, la détection automatisée des défauts et la caractérisation des défauts des plaquettes. La machine offre également une variété d'options entièrement intégrées de module de test de plaquettes, y compris IV, C-V, et des tests spécialisés de contrôle de processus et de contrôle de processus. L'outil est conçu pour traiter tous les types de plaquettes, y compris les tailles standard, avancées et personnalisées. Avec la possibilité de changer facilement les tailles des plaquettes au sein d'une même tête de test, l'actif peut facilement basculer entre différentes tailles rapidement et avec précision. Cela permet de tester simultanément plusieurs plaquettes de différentes tailles. HOMMEL T2000 comprend une suite d'outils logiciels personnalisables et de recettes de test de plaquettes qui permettent aux utilisateurs d'établir rapidement et avec précision les paramètres de test pour leurs applications spécifiques. En outre, le modèle offre une automatisation totale de l'exécution des tests, utilisant plusieurs chargeurs de tête de test et de plaquettes multiples pour traiter rapidement tous les types de plaquettes de test. En plus de fournir des capacités complètes d'essai de plaquettes et de métrologie, T2000 offre également des capacités supérieures de suivi et de traçabilité des plaquettes. En utilisant des tests de réussite/échec personnalisés, les utilisateurs peuvent rapidement et avec précision identifier les plaquettes ou les lots qui ne répondent pas aux spécifications, y compris la géométrie des plaquettes, le marquage, la topographie, ou d'autres problèmes potentiels. Dans l'ensemble, HOMMEL T2000 Wafer Testing and Metrology Equipment offre une combinaison puissante de performances, de précision et de flexibilité qui en fait un choix idéal tant pour la recherche que pour les applications industrielles. La gamme robuste de technologies du système permet aux utilisateurs de détecter et d'identifier rapidement et avec précision les problèmes de processus et de produits, et son automatisation totale, ainsi que sa traçabilité et ses contrôles d'imagerie haute résolution, font de T2000 un outil indispensable pour le contrôle avancé des processus semi-conducteurs.
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