Occasion IMS LVIS-III #9144218 à vendre en France

IMS LVIS-III est un équipement d'essai et de métrologie des plaquettes qui fournit des solutions d'essai et de métrologie des plaquettes de haute précision pour des applications industrielles et photovoltaïques. La plateforme est conçue pour certifier et vérifier l'homogénéité des plaquettes et assurer le maintien des rendements. La conception du système permet une variété d'options de substrat et offre un contrôle de haut niveau pour l'alignement des équipements. L'équipement est configuré avec une unité à quatre axes, permettant aux utilisateurs d'adapter la surface de test aux différents types de plaquettes et de substrat. Aux fins de la vérification de l'homogénéité, LVIS-III comprend deux stations laser indépendantes qui mesurent les plaquettes avant et après les essais. Le logiciel offre trois modes de fonctionnement principaux : numérisation, traduction et focus. Le mode balayage effectue un balayage de surface rapide de la plaquette pour analyser et mesurer la présence de toute non-uniformité, assurant ainsi la détection de toute variation des caractéristiques de surface. Le mode traduction utilise la machine à quatre axes pour déplacer l'échantillon dans des mouvements linéaires, permettant une comparaison entre les zones. Le mode de mise au point est utilisé pour ajuster la mise au point du faisceau laser et déterminer les positions appropriées pour les modes de balayage et de traduction. L'outil comprend en outre un processus automatisé de cartographie des plaquettes qui produit une série de représentations graphiques interactives de données mesurées pour une analyse plus poussée. En outre, la plate-forme intègre des systèmes d'automatisation de pointe pour assurer un processus de production réussi. Ces caractéristiques augmentent également le débit des plaquettes et permettent l'utilisation de l'actif dans des environnements de production élevée. L'IMS LVIS-III met également en œuvre des procédures de réduction des erreurs pour garantir l'exactitude des résultats. Il comprend une méthode d'alignement d'image graphique pour éliminer les erreurs dues au désalignement des différents points de cartographie des plaquettes. De plus, une température fournie à l'échantillon est mesurée et surveillée par le modèle pour tenir compte de la stabilité thermique des résultats. Dans l'ensemble, LVIS-III est un équipement d'essai et de métrologie de plaquettes de haute performance conçu pour des applications industrielles et photovoltaïques. Elle permet aux entreprises d'évaluer l'homogénéité des plaquettes et de s'assurer que les rendements sont maintenus le plus efficacement possible. Avec ses systèmes d'automatisation complets et ses techniques d'optimisation, IMS LVIS-III est un outil de production puissant utilisé pour surveiller et maintenir la qualité des produits dans l'industrie électronique et photovoltaïque.