Occasion IMS / NANOTECH LVIS-V #9248783 à vendre en France

IMS/NANOTECH LVIS-V est un équipement d'essai et de métrologie des plaquettes de pointe. Il intègre une technologie de pointe pour fournir le plus haut niveau de précision et de fiabilité pour une variété de mesures et d'essais de plaquettes. IMS LVIS-V est conçu avec un étage entièrement automatisé, ultra-rapide et une imagerie embarquée avancée. Cela fournit des capacités de métrologie de haute précision pour la fabrication de composants électroniques. Il excelle à tester et analyser des plaquettes, des pixels SEL et d'autres structures microélectroniques. Le système dispose d'une unité de vision-guidage automatisée qui assure des réglages précis et précis de la plaquette à l'essai. La machine de vision peut identifier et isoler les zones critiques de l'échantillon, en veillant à ce que seules les mesures les plus critiques soient prises. L'outil optique avancé de NANOTECH LVIS-V permet la détection et l'analyse de tous les types de caractéristiques électriques et optiques, fournissant des tests et analyses cohérents des plaquettes. L'actif dispose également d'un modèle de déplacement assisté par laser (LADIS) très efficace et fiable, qui fournit des mesures de haute précision avec une précision de micron. LVIS-V propose des tests complets des plaquettes, des sous-pixels et des défauts de surface. Il peut également être utilisé pour mesurer et analyser des paramètres électriques et optiques sur la plaquette. La flexibilité de l'équipement IMS/NANOTECH LVIS-V le rend adapté à une variété d'exigences d'application. Les capacités de métrologie avancées d'IMS LVIS-V lui permettent d'analyser des parties spécifiques de toute structure microélectronique. Il est spécialement conçu pour fournir des résultats d'inspection clairs qui peuvent être utilisés pour déterminer la qualité d'un échantillon. En outre, le système peut être rapidement et facilement modifié et adapté pour répondre à différentes exigences d'application. NANOTECH LVIS-V est une unité de test et de métrologie des plaquettes efficace, fiable et précise. Sa technologie de pointe et ses caractéristiques peuvent fournir aux fabricants le plus haut niveau de précision. LVIS-V offre une solution complète pour tester et analyser tous les types de composants microélectroniques.