Occasion INSPECTROLOGY IVS-165 #293648851 à vendre en France

ID: 293648851
Taille de la plaquette: 8"
CD Measurement system, 8".
INSPECTROLOGY IVS-165 est un équipement modulaire et performant d'essai et de métrologie de plaquettes offrant la capacité d'identifier les défauts potentiels sur chaque plaquette, comprenant une suite très configurable et complète pour une analyse approfondie et complète. Son ensemble complet de fonctionnalités permet de tester différents matériaux et substrats, allant du silicium au GaAs, en passant par l'InP. Le système permet le piégeage et l'analyse détaillée de toute métrologie ou défaut présent sur chaque plaquette. Il permet une large gamme d'analyses d'images, y compris l'imagerie 2D et 3D, l'imagerie couleur sans aide, les lumens et la densité optique, les biais, la taille des taches, le contournement et le référencement d'auto-segmentation, et l'auto-alignement. En outre, l'unité offre une analyse avancée des performances des défauts, allant des enquêtes sur les défauts flous à l'orientation et la classification automatiques des plaquettes, l'extraction et l'examen exhaustifs des données sur les défauts, et la comparaison de plusieurs plaquettes. Les informations détaillées saisies par la machine, telles que les emplacements de coordonnées et les erreurs dans les défauts, peuvent ensuite être utilisées pour améliorer la stabilité du processus et améliorer le rendement global. IVS-165 dispose également de puissantes capacités d'inspection stylet et SEM, telles que l'analyse de particules haute résolution et le profilage 3D de surface, ainsi que l'auto-couture des images avec un minimum d'interférence utilisateur. De plus, sa métrologie à grande vitesse caractérise rapidement les plaquettes à travers plusieurs sections de filière, ce qui permet d'optimiser les résultats des tests automatisés. Enfin, INSPECTROLOGY IVS-165 intègre un positionnement extrêmement fiable et précis, un contrôle de mouvement à grande vitesse ainsi que l'acquisition et la communication de données, en veillant à ce que les protocoles de test à haute performance soient fidèlement suivis avec un minimum de distorsion. La précision exceptionnelle de l'outil, combinée à sa grande disponibilité, garantit des résultats rapides et précis.
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