Occasion ISIS SENTRONICS SemDex 301-2 #9228734 à vendre en France

ISIS SENTRONICS SemDex 301-2 est un équipement d'essai et de métrologie de plaquettes spécialement conçu pour permettre une caractérisation complète de différents types de structures semi-conductrices. Le système se compose de deux composants primaires, à savoir un microscope optique haute résolution capable d'imager des structures jusqu'à l'échelle du nanomètre, et une unité de reconnaissance de motifs qui est utilisée pour localiser et mesurer avec précision les différentes caractéristiques trouvées dans la structure. En outre, la machine dispose également d'une gamme d'accessoires en option tels qu'un microscope laser, un microscope confocal, un spectromètre Raman, et un scanner, offrant aux utilisateurs une grande flexibilité dans leur capacité à effectuer des analyses structurelles détaillées. Au cœur de SemDex 301-2 se trouve le microscope optique haute résolution qui est capable d'imiter des structures jusqu'à l'échelle du nanomètre. Le microscope est équipé d'une variété de lentilles objectives, permettant aux utilisateurs d'effectuer efficacement l'imagerie d'une large gamme de matériaux, y compris le silicium, le métal et les couches diélectriques. Les images sont parfaitement focalisées grâce à la technologie avancée auto-focus, garantissant des résultats cohérents. De plus, la configuration optique unique du microscope permet une imagerie dynamique à grande échelle, ce qui donne des résultats extrêmement détaillés et améliore considérablement la précision des mesures à toutes les échelles. Ensuite, ISIS SENTRONICS SemDex 301-2 est équipé d'un outil de reconnaissance de motifs très sophistiqué qui améliore considérablement la précision de la détection et de la mesure des caractéristiques, en particulier pour les structures à haute densité. Cet atout est capable de localiser et de mesurer même les caractéristiques les plus complexes telles que les TSV, les puces à bascule et les couches diélectriques. Les données de mesure obtenues à partir de ce modèle sont extrêmement précises et fiables, car elles reposent uniquement sur des mesures directes plutôt que sur des hypothèses. Enfin, en plus de sa gamme de capacités déjà impressionnante, SemDex 301-2 est livré avec une gamme d'accessoires optionnels qui permettent une analyse structurelle encore plus poussée. Un microscope laser est disponible pour l'imagerie en temps réel des caractéristiques électriques, tandis qu'un microscope confocal et un scanner peuvent être utilisés pour effectuer des mesures chimiques et physiques non destructives. De plus, un spectromètre Raman est également disponible, permettant une analyse précise de la composition chimique. En conclusion, ISIS SENTRONICS SemDex 301-2 est un équipement puissant et polyvalent de test de plaquettes et de métrologie qui offre une imagerie haute résolution complète et la reconnaissance des fonctionnalités. Le système est idéal pour de nombreux types d'applications, permettant à ses utilisateurs d'effectuer des tests et des analyses précis, fiables et détaillés.