Occasion JMAR Mirage S2610-01-01-N #112118 à vendre en France

JMAR Mirage S2610-01-01-N est un équipement d'essai et de métrologie avancé conçu pour fournir des mesures fiables des paramètres des dispositifs semi-conducteurs tels que la tension, la capacité et la résistance. Ce système est alimenté par un rotor porte-air de haute performance, lui permettant de mesurer avec précision l'épaisseur et le profil des plaquettes. L'unité dispose également d'un module d'analyse de déformation de plaquettes qui permet de visualiser les hauteurs de bandes et de former des processus à la surface de la plaquette. Le S2610-01-01-N est équipé d'une machine de contrôle avancée et d'une interface logicielle qui permet aux utilisateurs de contrôler la vitesse de balayage, le temps de réponse et la résolution du capteur, et d'autres paramètres. L'outil est intégré à la technologie d'imagerie avancée telle que l'éclairage LED pour améliorer l'inspection des plaquettes et la réflectivité de l'image et le rejet du bruit. La technologie d'imagerie est conçue pour améliorer la collecte et l'analyse de données pour un large éventail de wafers. Le S2610-01-01-N dispose également d'un actif intégré de compensation de l'humidité et de la température qui permet des mesures précises sur les plaquettes humides et sèches. Les capacités logicielles complètes du modèle, combinées à ses fonctions de stockage et d'analyse des données, le rendent idéal pour les tests en ligne de production. Les données collectées et analysées par l'équipement peuvent être sauvegardées, segmentées et exportées dans plusieurs formats de fichiers. Le système offre également la sortie de données en temps réel, sans erreur et l'analyse des performances pour évaluer rapidement la qualité des plaquettes. En outre, l'unité comprend des fonctions de traitement de signal telles que la moyenne du signal, le filtrage, la cartographie de la planéité, la modification de la forme du signal et l'optimisation de la forme du signal. Cela permet aux utilisateurs de mesurer avec précision la tension, la capacité et la résistance de tout dispositif semi-conducteur. Mirage S2610-01-01-N est une machine d'essai et de métrologie de plaquettes sophistiquée et rentable qui fournit des mesures fiables de l'épaisseur des plaquettes et des paramètres des dispositifs semi-conducteurs. La technologie d'imagerie avancée de l'outil et les capacités de traitement du signal en font un choix idéal pour les tests en ligne de production.