Occasion JMAR Mirage #9112674 à vendre en France

JMAR Mirage est un équipement d'essai et de métrologie de plaquettes conçu pour permettre des essais rapides et de haute qualité sur des plaquettes semi-conductrices complexes. Il utilise une optique laser avancée, des capteurs d'image haute performance et des algorithmes sophistiqués de traitement d'image pour analyser les surfaces de plaquettes avec mouvement sur de grandes surfaces. Mirage utilise une plate-forme d'inspection étroitement intégrée qui comprend des optiques d'ultra-précision, des systèmes d'imagerie laser et des mesures basées sur la diffraction lumineuse. L'unité d'imagerie à double vue à 8 sphères évolutive du système offre des capacités d'imagerie brillantes et une précision optique, même dans des environnements de haut niveau. Il exploite un réseau personnalisé de taches laser, des caractéristiques d'alignement à grande vitesse et une automatisation à 7 axes pour des tests et métrologie précis et reproductibles. Les sous-systèmes d'imagerie parallaxe intégrés et ultra-compacts offrent également une sensibilité et une résolution élevées. La technologie de reconnaissance morphologique (MRT) de la machine permet aux utilisateurs d'évaluer rapidement les motifs de surface et les caractéristiques aussi petites que 1um sur toute la surface de la plaquette. Le moteur MRT est combiné avec un stigmate optique automatisé et des fonctions de mise au point. Il s'agit de l'évaluation complète des performances des surfaces et des non-uniformités requises dans la fabrication de produits semi-conducteurs complexes. JMAR Mirage utilise également la technologie de contrôle intersite (ISC) de SPCICorp. ISC assure le contrôle et la surveillance intégrés des commandes complexes via ses bibliothèques et algorithmes d'analyse in situ. Il fonctionne en tandem l'interface utilisateur intuitive pour déterminer rapidement une variété de caractéristiques critiques, telles que la zone de défaut, la position et la taille. Dans l'ensemble, Mirage offre un outil complet et performant pour le test des plaquettes et la métrologie. Il offre des capacités d'imagerie avancées combinées à des tests et analyses automatisés et contrôlés en mouvement. Une combinaison d'optiques laser, de capteurs d'images, d'algorithmes d'imagerie différentielle et de contrôles automatisés des outils lui permet d'évaluer rapidement et avec précision les surfaces des plaquettes semi-conductrices complexes.