Occasion JORDAN VALLEY JVX 7300 #293744810 à vendre en France

JORDAN VALLEY JVX 7300 est un équipement d'essai de plaquettes et de métrologie conçu pour mesurer avec précision les propriétés électriques, optiques et mécaniques des plaquettes à semi-conducteurs. Ce système de technologies de pointe permet des tests rapides et fiables des plaquettes semi-conductrices, avec un traitement et une analyse des données rapides. JVX 7300 dispose de divers composants matériels qui fonctionnent dans une unité en boucle fermée. Ces composants comprennent un étage de plaquette d'enceinte, un lecteur de broche, des échelles linéaires à haute résolution, des caméras, des sondes tactiles, des sources d'éclairage et un large éventail d'autres capacités qui fournissent des mesures stables et précises. L'étage de plaquette, qui est l'endroit où la plaquette est placée, est construit avec de l'aluminium robuste et a une conception à faible frottement, de sorte que la plaquette peut facilement être mis en place et transporté avec facilité. L'entraînement de la broche fonctionne par l'intermédiaire d'un servomoteur qui fournit des mesures fiables et la stabilisation pour le test précis de la plaquette. Les échelles linéaires haute résolution mesurent les mouvements latéraux et de rotation lors des essais de plaquettes, avec une grande précision et stabilité. Les caméras capturent des images de la plaquette, qui sont ensuite analysées pour étudier la micro-structure de la topographie des semi-conducteurs. Les sondes tactiles traversent la surface de la plaquette pour mesurer les propriétés électriques ou mécaniques telles que la résistance électrique du dispositif et l'épaisseur de la plaquette. Les sources d'éclairage, telles que la lumière halogène, les lampes de désembrouillage et les lampes tungstène-halogène fournissent une source lumineuse solide et appropriée pour les caméras de capturer des images détaillées. La puissante machine embarquée de traitement et d'analyse des données offre une analyse rapide des données de mesure acquises. Il dispose d'un disque dur de grande capacité, d'applications logicielles et d'une interface utilisateur graphique, ce qui simplifie la saisie, le traitement et la recherche de données. L'outil dispose également d'outils logiciels pour analyser l'inspection optique basée sur une petite structure. Les performances remarquables de JORDAN VALLEY JVX 7300 wafer testing and metrology asset en font l'un des meilleurs systèmes de test, de recherche et de développement de wafer semiconducteurs. Avec ses différents composants matériels et logiciels, ainsi que des mesures fiables et de grande précision, JVX 7300 est en mesure de mesurer et d'analyser avec précision les propriétés électriques, optiques et mécaniques des plaquettes semi-conductrices.