Occasion KEVEX Omicron 952-102 #63742 à vendre en France

KEVEX Omicron 952-102 Wafer Testing and Metrology Equipment est une plate-forme de test de précision conçue pour tester des wafers semi-conducteurs. Il est destiné au développement de procédés, à la caractérisation et au contrôle de la qualité dans la fabrication de semi-conducteurs. Le système se compose d'une table de plaquette motorisée, d'un boîtier de support et d'un microscope optique d'inspection haute résolution. La table de plaquettes est capable de positionner des plaquettes avec une précision allant jusqu'à 1,5 μ m. Le microscope optique a la capacité de mesurer de petites dimensions critiques à la surface de la plaquette telles que les longueurs de grille et les dimensions du dispositif, ainsi que d'autres caractéristiques, avec une précision de 2 μ m ou mieux. Les surfaces planes et inclinées peuvent être mesurées. L'unité Omicron 952-102 offre une variété de caractéristiques de mesure, y compris la capacité de mesure vectorielle qui peut être utilisée pour mesurer des surfaces non planes ainsi que la mesure d'alignement. Cette machine dispose également d'un mode de visualisation descendant qui peut être utilisé pour mesurer des géométries telles que le profil de hauteur ou les contours de surface. Les données acquises par l'outil sont transférées par une caméra CCD à l'ordinateur SIAM (Advanced Computer Imaging Asset). L'ordinateur SIAM numérise ensuite l'image et fournit des capacités de traitement, d'analyse et de stockage de l'image. Les images peuvent être traitées pour détecter des défauts tels que la contamination, le micro-annulation et les défauts causés par le tracé des lignes. Le logiciel avancé d'imagerie et d'analyse numériques (DIA) permet des mesures et des analyses plus détaillées. De plus, le modèle offre des options de connectivité avancées lui permettant d'être intégré dans des systèmes de test automatisés. L'équipement KEVEX Omicron 952-102 est une plate-forme polyvalente et performante pour tester, mesurer et analyser des plaquettes semi-conductrices. Il supporte une large gamme de tailles de plaquettes et est très précis pour les tests, la métrologie et la détection des défauts. En outre, ses fonctions avancées et ses options de connectivité en font une solution idéale pour les tests automatisés et le développement de processus.